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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102574230A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102574230A(43)申请公布日2012.07.11(21)申请号201080044551.8松尾泰贵(22)申请日2010.09.28(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限(30)优先权数据公司111272009-2319762009.10.05JP代理人党晓林王小东2009-2319772009.10.05JP(51)Int.Cl.2009-2319802009.10.05JPB23F23/12(2006.01)(85)PCT申请进入国家阶段日B23F5/04(2006.01)2012.03.31B24B53/075(2006.01)(86)PCT申请的申请数据PCT/JP2010/0668222010.09.28(87)PCT申请的公布数据WO2011/043225JA2011.04.14(71)申请人本田技研工业株式会社地址日本东京都(72)发明人伊藤达也久米正夫岩佐直树小川浩高桥启介冨沢佑一权利要求书权利要求书2页2页说明书说明书1313页页附图附图99页(54)发明名称用于测量齿面偏差的装置和方法、用于成形磨削工具的装置和方法、以及用于齿轮磨削装置的齿轮啮合方法(57)摘要一种用于测量齿面偏差的装置包括:接触式检测器(44),所述接触式检测器(44)测量当磨削工具(12)和修整齿轮(14)在使磨削齿面和修整齿轮(14)的修整齿面接触的状态下同步旋转时修整齿轮的齿面相对于在所述磨削工具(12)的螺旋状磨削齿(70)上成形的磨削齿面的偏差,并且检测所述磨削齿面和所述修整齿面之间的接触;和控制器(26),该控制器改变所述修整齿轮(14)的旋转速度使得所述接触式检测器(44)的检测结果在接触确定数据的范围内,并且还测量所述磨削工具(12)和所述修整齿轮(14)在该修整齿轮(14)的一次回转中已经改变的量。CN1025743ACN102574230A权利要求书1/2页1.一种齿面偏差测量装置,所述齿面偏差测量装置用于当磨削工具(12)和齿轮(14或202)在该磨削工具(12)的螺旋状磨削齿面和该齿轮(14或202)的齿面能保持相互接触的同时相互同步旋转时,测量所述齿轮(14或202)的所述齿面相对于所述磨削工具(12)的所述磨削齿面的偏差,所述齿面偏差测量装置包括:接触检测装置(44),该接触检测装置用于检测所述磨削齿面和所述齿面之间的接触;旋转速度改变装置,该旋转速度改变装置用于改变所述磨削工具(12)和所述齿轮(14或202)中任一者的旋转速度,使得由所述接触检测装置(44)取得的检测结果落在规定范围内;以及测量装置,该测量装置用于沿着所述齿轮(14或202)的整周测量由所述旋转速度改变装置产生的所述磨削工具(12)和所述齿轮(14或202)的相位变化量。2.根据权利要求1所述的齿面偏差测量装置,其中,所述旋转速度改变装置改变所述齿轮(14或202)的旋转速度。3.根据权利要求1或2所述的齿面偏差测量装置,其中,所述接触检测装置(44)包括AE传感器。4.一种齿面偏差测量方法,所述齿面偏差测量方法用于当磨削工具(12)和齿轮(14或202)在该磨削工具(12)的螺旋状磨削齿面和该齿轮(14或202)的齿面能保持相互接触的同时相互同步旋转时,测量所述齿轮(14或202)的所述齿面相对于所述磨削工具(12)的所述磨削齿面的偏差,所述齿面偏差测量方法包括:检测步骤,该检测步骤利用接触检测装置(44)来检测所述磨削齿面和所述齿面之间的接触;旋转速度改变步骤,该旋转速度改变步骤用于改变所述磨削工具(12)和所述齿轮(14或202)中任一者的旋转速度,使得由所述接触检测装置(44)取得的检测结果落在规定范围内;以及测量步骤,该测量步骤用于沿着所述齿轮(14或202)的整周测量在所述旋转速度改变步骤中产生的所述磨削工具(12)和所述齿轮(14或202)的相位变化量。5.一种磨削工具成形装置,其包括:修整齿轮(14),该修整齿轮(14)具有用于与磨削工具(12)的螺旋状磨削齿(70)的磨削齿面接触的修整齿面,在所述磨削齿面和所述修整齿面能保持相互接触的同时所述修整齿轮(14)能与所述磨削工具(12)同步旋转;接触检测装置(44),该接触检测装置用于检测所述磨削齿面和所述修整齿面之间的接触;旋转速度改变装置,该旋转速度改变装置用于改变所述磨削工具(12)和所述修整齿轮(14)中任一者的旋转速度,使得由所述接触检测装置(44)取得的检测结果落在规定范围内;以及记录装置(94),该记录装置用于沿着该修整齿轮(14)的规定范围记录所述磨削工具(12)和所述修整齿轮(14)的相位变化量;其中,基于由所述记录装置(94)记录的信息使