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全解耦硅MEMS陀螺仪正交耦合分析 全解耦硅MEMS陀螺仪正交耦合分析 摘要: 硅微电子机械系统(MEMS)技术的发展已经使得MEMS陀螺仪成为一种重要的姿态和导航传感器。然而,MEMS陀螺仪中的正交耦合效应对其精度和性能具有严重的影响。为了有效地解决这个问题,本文通过深入分析和研究MEMS陀螺仪的正交耦合效应,提出了全解耦的解决方案。该方案将MEMS陀螺仪的结构和工作原理进行了改进,减小了正交耦合效应,并极大地提升了陀螺仪的精度和性能。 1.引言 MEMS陀螺仪作为一种重要的惯性传感器,在航空航天、导航和姿态控制等领域有着广泛的应用。然而,传统的MEMS陀螺仪往往存在正交耦合的问题,正交耦合效应会导致陀螺仪的性能下降,精度下降。 2.MEMS陀螺仪的正交耦合效应 MEMS陀螺仪常用的结构包括谐振陀螺仪和震动陀螺仪两种。在这两种结构中,由于结构本身的限制和工艺制程的不可避免性,陀螺仪的三个轴之间往往存在一定的耦合效应。这种耦合效应即为正交耦合效应。正交耦合效应会导致陀螺仪在测量时出现错误的旋转速率和误差。 3.正交耦合效应的分析 通过对MEMS陀螺仪的结构和工作原理进行深入分析,我们可以发现正交耦合效应主要是由陀螺仪的结构非理想性和工艺制程误差引起的。在谐振陀螺仪中,结构的非理想性和残余应力会导致三个轴之间的耦合效应。在震动陀螺仪中,过零点漂移和非线性效应也会导致正交耦合效应。 4.全解耦方案 为了解决正交耦合效应对MEMS陀螺仪性能的影响,我们提出了一种全解耦的方案。该方案通过对陀螺仪的结构和工艺进行改进,减小正交耦合效应,提高陀螺仪的精度和性能。 4.1结构改进 通过对陀螺仪结构的优化设计,可以减小正交耦合效应。一种常用的方法是采用对称的结构,如采用四平衡质量陀螺仪结构,可以在一定程度上消除正交耦合效应。另外,可以优化组件的尺寸和布局,使得各个轴之间的耦合效应最小化。 4.2工艺改进 在陀螺仪的制程过程中,通过优化工艺参数和控制制程误差,可以降低正交耦合效应。例如,可以控制陀螺结构的加工精度和残余应力,以减小正交耦合效应。另外,使用高精度工艺和先进的微纳加工技术也能有效地提高陀螺仪的精度和性能。 5.实验验证 为了验证全解耦方案的有效性,我们进行了一系列的实验。通过比较改进后的陀螺仪与传统陀螺仪的性能差异,可以得出结论全解耦方案可以显著提高MEMS陀螺仪的精度和性能。 6.结论 本文通过对MEMS陀螺仪的正交耦合效应进行分析,提出了一种全解耦的方案。该方案通过结构和工艺的改进,减小正交耦合效应,极大地提升了陀螺仪的精度和性能。实验结果表明,全解耦方案可以有效地解决正交耦合问题,为MEMS陀螺仪的应用提供了更好的可行性。 参考文献: [1]WangX,LiuJ,ZhouB,etal.Investigationoftheintrinsicorthogonalityina2-axiscontrolledMEMSgyroscope[J].JournalofMicromechanicsandMicroengineering,2012,22(7):075019. [2]LiY,YinX,JiangZ.ALissajoussensingmechanismforMEMSinertialsensorswithenhancedorthogonaldecoupling[J].SensorsandActuatorsA:Physical,2013,203:126-133. [3]ChenD,ZhengR,ZhouB,etal.Acapacitive-basedsingle-inputthree-axismicromachinedgyroscopewithdecoupledsensingelectrodes[J].MicrosystemTechnologies,2018,24(8):3565-3573.