半导体激光自混合干涉测量技术中正弦相位调制参数的优化分析.docx
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半导体激光自混合干涉测量技术中正弦相位调制参数的优化分析.docx
半导体激光自混合干涉测量技术中正弦相位调制参数的优化分析半导体激光自混合干涉测量技术是一种基于激光干涉的高精度测量技术。在该技术中,激光器发射两束光线并对其进行混合,然后在接收端通过干涉测量来测量物体的形态变化或者振动情况等。在干涉测量过程中,正弦相位调制参数是关键因素之一,会对干涉信号的质量和稳定性产生重要影响。因此,正弦相位调制参数的优化分析是半导体激光自混合干涉测量技术中非常重要的课题。首先,需要明确正弦相位调制参数的基本概念和作用原理。正弦相位调制是在激光信号中加入一个周期性的调制函数,使得接收到
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半导体激光正弦相位调制干涉测振技术的研究半导体激光正弦相位调制干涉测振技术的研究摘要:振动是许多工程领域中需要测量和控制的重要参数。半导体激光正弦相位调制干涉测振技术是一种基于干涉原理的非接触式振动测量方法,具有高精度、高分辨率和广泛的应用前景。本论文旨在研究半导体激光正弦相位调制干涉测振技术的原理、方法以及其在振动测量领域的应用。首先介绍了干涉测振技术的基本原理,然后详细描述了半导体激光正弦相位调制干涉测振技术的实现方法,包括光学系统、信号处理和数据分析等方面的内容。随后,分析了该技术的优点和不足之处,
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正弦相位调制位移干涉测量技术的研究正弦相位调制位移干涉测量技术是一种基于光学干涉原理的高精度测量技术,被广泛应用于光学机械制造、自动化测量、三维数字化测量、光栅测量等领域。本文将介绍正弦相位调制位移干涉测量技术的原理、应用以及发展趋势。一、正弦相位调制位移干涉测量技术原理正弦相位调制位移干涉测量技术是利用光干涉原理,通过将待测物体与参考物体反射回的光束相干合成,通过调制相位来实现对物体表面位移的测量。其基本原理如下图所示:图1:正弦相位调制位移干涉测量技术原理图在正弦相位调制位移干涉测量技术中,有两个光路
用于正弦相位调制干涉测量的调制度和初相位测量方法.pdf
本发明涉及正弦相位调制干涉测量的调制度和初相位测量,为提出克服正弦相位调制干涉测量中调制度测量过程繁琐的缺点的方法,具备简便易行的特点,且所求出的调制度值在原理上无误差,为此,本发明采用的技术方案是,用于正弦相位调制干涉测量的调制度和初相位测量方法,利用分光装置将激光器射出的光束分光构建迈克尔逊干涉仪,再用外调制技术或内调制技术对干涉相位进行正弦调制;光电转换模块接收调制之后的迈克逊干涉信号,经模数转换之后输入信号处理模块,提取四次谐波幅值,再进行运算解出调制度和初相位。本发明主要应用于调制干涉测量场合。