激光粒度仪0.ppt

激光粒度仪激光粒度仪主要内容激光粒度仪的原理米氏（Mie）散射理论表明，当光束遇到颗粒阻挡时，一部分光将发生散射现象，散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ，θ角的大小与颗粒的大小有关，小角度(θ)的散射光是由大颗粒引起的；大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的，如图2所示。
进一步研究表明，散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样，测量不同角度上的散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了。激光粒度仪的光学结构激光粒度仪光学结构的变迁

测量下限是激光粒度仪重要的技术指标。激光粒度仪光学结构的改进基本上都是为了扩展其测量下限或是小颗粒段的分辨率。
基本思路是增大散射光的测量范围、测量精度或者减少照明光的波长。三、带有PIDS技术的光学结构

目前由BeckmanCoulter独家使用。这种结构是在普通的激光粒度仪光学结构（双镜头结构或透镜后傅立叶结构）之外，增加一种称为PIDS技术的测量系统。所谓PIDS是“散射的偏振强度差”的英文缩写。
它是利用亚微米颗粒对水平偏振光和垂直偏振光有不同的散射光场分布，与此相对，大颗粒在两个偏振态上则没有什么差异。为了提高对小粒径的分辨率，PIDS中用了3种不同的波长（450nm、600nm和900nm）。
在粒度较小时，粒度与光波长比值（d/l）减少，因而干涉效应也减少，散射图变得较为光滑且对角度依赖性减少。在较小的粒度范围内，粒度对散射强度模式的灵敏度也大大减少，这样要获取准确的粒度则越来越困难。
如果使用较短波长的光，d/l比值将变大，所以较低的粒度极限将得到有效的扩展。联合光散射的极化效应和大角度时的波长依赖性，我们能够将较低的粒度极限扩展到40nm（几乎达到理论极限）。这便是已取得专利的极化强度差示散射（PIDS）技术。贝克曼库尔特LS13320粒度仪LS13320激光粒度仪的系统构件一、LS13320的光工作台：二、LS13320的光源三、LS13320的样品模块LS13320激光粒度仪操作步骤注意事项讨论