具有滑块的光学测量装置和光学测量方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN103389047A*(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103389047103389047A(43)申请公布日2013.11.13(21)申请号201310163817.6(22)申请日2013.05.07(30)优先权数据102012008905.82012.05.08DE61/643,9602012.05.08US(71)申请人空中客车德国运营有限责任公司地址德国汉堡(72)发明人安德烈·克拉斯(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227代理人朱胜李春晖(51)Int.Cl.G01B11/24(2006.01)权权利要求书1页利要求书1页说明书3页说明书3页附图1页附图1页(54)发明名称具有滑块的光学测量装置和光学测量方法(57)摘要本发明涉及具有滑块的光学测量装置和光学测量方法，其中用于测量对象（1）的表面轮廓的光学测量装置包括三脚架（2），在三脚架上安装有相机平台（3），其中，在相机平台（3）上布置有至少两个照相机（4），用于对包括标记元件（5）的对象（1）进行成像，并且所述至少两个照相机（4）以可以从两个不同视角执行对对象（1）进行成像的方式布置在相机平台（3）上，其中，在相机平台（3）与三脚架（2）之间布置有位移装置（6），用于相机平台（3）沿彼此独立的三个方向的线性位移。CN103389047ACN1038947ACN103389047A权利要求书1/1页1.一种用于测量对象（1）的表面轮廓的光学测量装置，包括：三脚架（2），在所述三脚架上安装有相机平台（3），其中，在所述相机平台（3）上布置有至少两个照相机（4），用于对包括标记元件（5）的所述对象（1）进行成像，并且所述至少两个照相机（4）以能够从两个不同视角执行对所述对象（1）进行成像的方式布置在所述相机平台（3）上，其中，在所述相机平台（3）与所述三脚架（2）之间布置有位移装置（6），用于所述相机平台（3）沿彼此独立的三个方向的线性位移。2.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述位移装置（6）能够沿彼此垂直并且对应于空间轴线的三个方向移动。3.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述位移装置（6）包括相对于彼此垂直地进行操作的三个精密滑动导轨（7），其中所述三个精密滑动导轨（7）中的每一个精密滑动导轨均包括用于测量位移路径的已校准的测量系统。4.根据权利要求3所述的测量装置，其中，所述已校准的测量系统是测径规（8）和/或螺旋千分尺（9）。5.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述位移装置（6）是构成所述测量装置整体的必要部分。6.根据权利要求1所述的测量装置，其中，要测量的所述对象（1）是飞行器部件。7.一种用于借助于测量装置来测量对象（1）的表面轮廓的光学测量方法，其中，在三脚架（2）上安装有相机平台（3），并且在所述相机平台（3）上布置有至少两个照相机（4），用于对包括标记元件（5）的所述对象（1）进行成像，其中所述至少两个照相机（4）以能够从两个不同视角执行对所述对象（1）进行成像的方式布置在所述相机平台（3）上，其中，通过在所述三脚架（2）与所述相机平台（3）之间布置的、具有沿对应于空间轴线的三个垂直方向相对于彼此垂直地进行操作的三个精密滑动导轨（7）的位移装置（6），使所述相机平台（3）移动，其中，在测量的开始和在每个行进路径完成之后对要测量的所述对象（1）拍摄图像。8.根据权利要求7所述的测量方法，其中，在每个测量过程之前，将所述至少两个照相机（4）相对于彼此和相对于要测量的所述对象（1）进行布置，其中借助于标记元件（5）对要测量的所述对象（1）进行标记。9.根据权利要求7所述的测量方法，其中，在每个测量过程之前，在考虑精确测量条件的情况下，对光学测量装置执行校准，以便确定在每个测量点处的测量不确定度并且提供能够追溯校准标准的校准证据。10.根据权利要求9所述的测量方法，其中，在所述光学测量装置的校准期间，所述三个精密滑动导轨（7）中的每一个精密滑动导轨以直至要测量的所述对象（1）的位移宽度的若干增量进行位移，所述位移宽度对应于要测量的最大对象形变。2CN103389047A说明书1/3页具有滑块的光学测量装置和光学测量方法技术领域[0001]本发明涉及用于测量对象的表面轮廓的光学测量装置，该光学测量装置包括三脚架，在三脚架上安装有相机平台，其中，在相机平台上布置有至少两个照相机，用于对包括标记元件的对象进行成像，并且所述至少两个照相机以可以从两个不同视角执行对对象进行成像的方式布置在相机平台上。此外，本发明涉及借助于这样的测量装置来测量对象的表面轮廓的光学测量方法。[0002]本发明的领域涉及光学测量技术，特别地涉及基于图像处理的光学测量技术，例如照