CCD线阵在非接触曲面形状测量技术中的应用.docx
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CCD线阵在非接触曲面形状测量技术中的应用.docx
CCD线阵在非接触曲面形状测量技术中的应用随着制造技术的不断迭代更新,非接触测量技术越来越得到广泛应用。其中,CCD线阵在非接触曲面形状测量中的应用广泛、受到关注。本文就此主题展开论述。一、CCD线阵测量原理CCD线阵传感器是一种特殊的成像设备,由一系列CCD元器件线性排列而成,通过对被测试物体表面反射的光信号进行捕捉,再借助数据采集系统进行处理,进而得到被测对象的形状信息。具体包括以下几个步骤:首先,线阵传感器发出激光或光栅条纹等一定的规律光照射到被测物体表面,根据反射的光线,传感器从而感受到曲面表面的
利用线阵 CCD 非接触测量材料变形量的方法.pdf
第29卷第4期光电工程Vol.29,No.42002年8月Opto-ElectronicEngineeringAug,2002文章编号:1003-501X(2002)04-0020-04利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法王庆有,于涓汇,郭青,张盛彬(1.天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津300072;2.光电信息技术科学教育部重点实验室,天津300072)摘要:用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。
基于线阵CCD的非接触尺寸测量研究的任务书.docx
基于线阵CCD的非接触尺寸测量研究的任务书任务书1.研究背景在现代工业生产中,尺寸测量一直是一个重要的问题。无论是制造产品,还是进行质量检验,尺寸测量都必不可少。传统的尺寸测量方法通常是通过接触,使用游标卡尺、千分尺、编码尺等工具进行测量。然而这些方法都存在一些不足之处,例如,测量时间长、复杂,且易受触摸力度、视角等因素的影响。为解决这些问题,非接触式尺寸测量技术成为了一种值得研究的新方向。随着CCD图片技术的发展,国内外学者开始研究基于线阵CCD的非接触尺寸测量技术,并取得了良好的研究成果。基于线阵CC
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的任务书.docx
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的任务书任务书任务题目:基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究任务概述:本项目的主要研究方向是基于线阵CCD的非接触微位移测量系统,通过该系统可以实现高精度的微位移测量,广泛应用于机械制造、光学、电子、医疗器械等领域。该系统具有测量准确度高、测量时间短、操作方便等优点。本项目旨在通过对该系统的研究,能够深入了解该系统的原理和性能,实现对微位移的精确测量。任务分析:1.任务目标分析:(1)研究线阵CCD成像原理及其在微位移测量中的应用。(2)了解微位移的相关原理和测
基于线阵CCD的非接触式直径测量系统研究的任务书.docx
基于线阵CCD的非接触式直径测量系统研究的任务书任务书题目:基于线阵CCD的非接触式直径测量系统研究一、任务背景和研究内容直径是许多物理量(如长度、体积、质量、压力等)的基础之一,直径测量在工业生产、科研实验等领域中具有重要作用。传统的直径测量方法一般都是基于接触,但是它们在实际应用过程中受到环境、测量物体的特性等因素的影响较大,不够精准。为了解决这个问题,非接触式直径测量技术应运而生。本任务旨在研究基于线阵CCD的非接触式直径测量系统,实现对直径的高精准测量。具体内容包括:(1)建立光学传感系统并进行校