利用线阵 CCD 非接触测量材料变形量的方法.pdf
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利用线阵 CCD 非接触测量材料变形量的方法.pdf
第29卷第4期光电工程Vol.29,No.42002年8月Opto-ElectronicEngineeringAug,2002文章编号:1003-501X(2002)04-0020-04利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法王庆有,于涓汇,郭青,张盛彬(1.天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津300072;2.光电信息技术科学教育部重点实验室,天津300072)摘要:用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。
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基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的任务书任务书任务题目:基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究任务概述:本项目的主要研究方向是基于线阵CCD的非接触微位移测量系统,通过该系统可以实现高精度的微位移测量,广泛应用于机械制造、光学、电子、医疗器械等领域。该系统具有测量准确度高、测量时间短、操作方便等优点。本项目旨在通过对该系统的研究,能够深入了解该系统的原理和性能,实现对微位移的精确测量。任务分析:1.任务目标分析:(1)研究线阵CCD成像原理及其在微位移测量中的应用。(2)了解微位移的相关原理和测