大口径光学非球面元件拼接优化及精度验证.docx
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大口径光学非球面元件拼接优化及精度验证.docx
大口径光学非球面元件拼接优化及精度验证摘要:随着大规模光学元件的不断发展,大口径光学非球面元件成为了关键的应用领域。在大规模光学元件系统中,大口径光学非球面元件的精度和优化是至关重要的,因为它们直接关系到整个系统的性能和质量。因此,本文通过对大口径光学非球面元件拼接优化及其精度验证的研究,探讨了在光学元件系统中大口径光学非球面元件的设计和优化。关键词:大口径、光学非球面元件、拼接优化、精度验证引言:大口径光学非球面元件在光学元件系统中扮演着重要的角色,应用于众多领域,如航天、天文、医疗等。然而,大口径光学
大口径光学非球面元件的两段轮廓拼接测量方法.pdf
大口径光学非球面元件的两段轮廓拼接测量方法,涉及非光学球面元件。首先提出一种基于曲率半径不变原理对齐重叠区域数据点的方法。其次根据多体系统运动学理论、斜率差值和逆推法建立两段面形轮廓拼接的初步优化数学模型。最后根据初步拼接数学模型的仿真结果,对初步拼接误差进行线性最小二乘拟合,去除累积误差,提出最终的两段拼接优化算法。利用TaylorHobson轮廓仪和辅助测量夹具对150mm的平面光学元件进行测量实验并用拼接优化算法进行数据处理,实验结果表明,拼接误差的标准偏差最大为0.868μm,能满足磨削阶段光学
磨削阶段大口径非球面光学元件拼接测量技术研究的任务书.docx
磨削阶段大口径非球面光学元件拼接测量技术研究的任务书任务书一、课题背景随着科技的不断发展和应用的广泛推广,大口径非球面光学元件作为光学系统设计的重要组成部分,在航空、军工、机械制造等领域有着广泛应用。由于传统的球面光学元件难以满足高质量光学成像的需要,大口径非球面光学元件的使用使得光学系统的性能大幅提升。但是,大口径非球面光学元件的制造工艺复杂,磨削、抛光的精度要求极高,尤其是不可避免的插值误差和生产过程中的不准确性可能导致光学元件表面的局部偏差,这些偏差可能会显著影响光学系统的性能。因此,需要对大口径非
大口径非球面检测设备关键光学元件支撑优化设计的任务书.docx
大口径非球面检测设备关键光学元件支撑优化设计的任务书一、背景介绍近年来,随着各种高精度光学器件的应用日益广泛,对其质量要求也越来越高,大口径非球面光学元件的测量和加工技术面临着巨大的挑战。其中,测量是关键的环节,只有准确测量出元件表面的形态和误差,才能保证加工出高精度、高性能的光学元件。针对大口径非球面光学元件的测量需求,目前已经出现了一些非球面光学测量设备,如大口径非球面摆动臂测试仪、大口径非球面椭圆形测量仪等。然而,这些测量设备在元件支撑方面仍然面临一些问题,例如支撑点数不够、支撑点位置不合理等,导致
子孔径拼接干涉检测非球面光学元件的中期报告.docx
子孔径拼接干涉检测非球面光学元件的中期报告一、研究背景非球面光学元件在现代光学领域中有着广泛的应用,例如天文望远镜、激光束成形系统和半导体光学系统等。为了保证这些光学系统的精度和功能,非球面光学元件必须具有高质量的表面形状和表面光洁度。然而,非球面光学元件的制造过程中会受到很多因素的影响,例如材料特性、机械加工过程、表面润滑和磨料等。这些影响因素会导致非球面光学元件表面形状不规则、光学误差增大以及表面光洁度下降。为了解决这些问题,研究人员通常使用干涉仪对非球面光学元件进行表面形状和表面光洁度的测量。干涉仪