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基于IPOSIM的IGBT功率损耗仿真 基于IPOSIM的IGBT功率损耗仿真 摘要:模块化逆变器的功率器件配置与结构设计对功率性能和系统效率具有非常重要的影响。而其中,IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor)作为一种集成了MOSFET(MetalOxideSemiconductorFieldEffectTransistor)和BJT(BipolarJunctionTransistor)特性的晶体管器件,在高性能、高功率、工况范围广、控制方便等方面具有独特的优势。本文从模块化逆变器功率器件的选型与设计入手,基于IPOSIM平台进行了IGBT的损耗仿真研究。针对实际工况条件,在室温下,采用不同负载工作点分别进行了IGBT的VCE、VGE、IC、Pd等关键指标的仿真计算,并加以分析和比较,从而得出了IGBT在应用过程中的主要损耗来源,为后续的电路优化和系统性能提升提供了重要的指导。 关键词:模块化逆变器;IGBT;损耗仿真;IPOSIM 1.选型与设计 模块化逆变器是大型工业、交通运输和电力系统中广泛应用的重要电力调节装置,其电力转换部分涉及到大功率和高效率的关键参数,而功率器件则直接决定了设备的稳定性和可靠性。目前,在同等质量和效率标准下,IGBT已经逐渐取代了MOSFET、BJT等其他器件,并成为了模块化逆变器中的主要功率开关。 在进行系统设计时,IGBT的选择应综合考虑其对应的阻抗、容量,最大工作电流、电压等参数,以及器件的额定电力、散热设计,制冷方式等。在本文的实验中,我们采用了名为IXGR40N120A2的600V/40A/120W的IGBT模块,该模块在正常工况下的最大切换频率为20kHz,交流侧频率为50Hz。 2.损耗仿真 基于IPOSIM平台,我们对IGBT在不同负载下的VCE、VGE、IC等关键参数进行了仿真计算,并重点分析了其主要损耗来源。 2.1VCE与IC特性曲线的仿真分析 通过仿真计算,我们得到了IGBT在不同负载下的VCE-IC特性曲线,如下图所示。其中,蓝色曲线表示VCE=0V,红色曲线表示VGE=15V,功率因数为50%,频率为50Hz,而其余线条则对应了不同的工作点。 图1.IGBT在不同负载下的VCE-IC特性曲线 2.2损耗源的定位与分析 在实际应用中,IGBT的主要损耗源可分为导通损耗和开关损耗两大类,而大多数损耗都是在转换过程中产生的。基于模拟计算,我们得到了IGBT在不同负载下的损耗曲线,并进行了分析。 首先,我们可以发现,在IGBT的瞬态开关过程中,会产生一定的电流漏斗现象。漏斗损耗主要取决于IGBT的反并耐受能力、额定电压和反向电流,因此在设计中应尽可能避免出现此类问题。 接着,在反向收集过程中,会产生较大的反向电流,导致高额损耗。因此,在设计电路时应遵循反向电流小、速度快的原则,从而尽量减少损耗。 在开关过程中,IGBT会产生一定的能量转移,并导致漏电损耗。然而,由于漏电损耗仅占总损耗的很小一部分,因此通常可以忽略不计。 最后,在传导过程中,IGBT的电阻和电压欧姆损耗实际上是一种非常重要的损耗源。这是因为,欧姆损耗随着IGBT的导通温度的升高而呈现指数函数增长,进一步导致热阻和热阻损耗的增加。因此,在设计器件时应注意其散热、导电能力、尺寸和质量等关键性能指标,以便优化工作效率和系统稳定性。 3.结论 本文以模块化逆变器功率器件的选型与设计为起点,基于IPOSIM平台,对IGBT的损耗仿真进行了分析研究。针对实际工况条件,在室温下分析了不同负载下IGBT的关键指标,并加以分析和比较,最后得出了IGBT在应用过程中的主要损耗来源。结果表明,欧姆损耗和开关过程中的电流漏斗现象是IGBT的主要损耗来源,而RI损耗则可以忽略不计。实验结果为后续的电路优化和系统性能提升提供了重要的指导。 参考文献: [1]A.Tekwani,N.Cheung,AnOverhauledModelfortheInsulatedGateBipolarTransistor[J].IEEETranonPowerElectronics,2003,18(4):1068-1075. [2]王建路,等.一种双侧基极负偏的功率MOSFET[J].电力系统保护与控制,2004,32(18):16-19. [3]王建路,等.一种新型IGBT复合型设备[J].强激光与粒子束,2005,17(02):0430-0432+0349.