

快速恢复外延二极管用硅外延片的工艺研究.docx
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快速恢复外延二极管用硅外延片的工艺研究.docx
快速恢复外延二极管用硅外延片的工艺研究快速恢复外延二极管是一种热门的半导体器件,它具有高精度、高速度、高灵敏度和稳定性等特点。目前,二极管的快速恢复方案主要分为两类,即滞后二极管和外延二极管。本篇论文主要介绍快速恢复外延二极管的工艺研究和发展。一、外延二极管的基本原理外延二极管与标准二极管类似,都是由两个半导体材料组成的器件,但其在电压和频率等方面具有更高的性能。外延二极管是通过在p型硅片上生长一个n型外延层来制造的,其结构和标准二极管非常相似。硅外延片的选择、生长和即席独特的硅外延工艺非常关键,这些步骤
快速恢复外延二极管用双层硅外延片的制备方法.pdf
本发明提供了一种快速恢复外延二极管用双层硅外延片的制备方法,属于半导体材料制备技术领域,方法包括硅衬底片的预处理:外延前对选用的硅衬底片进行清洗、抛光,并在抛光时,外延腔室内温度升温至1030~1060℃;外延生长:在外延腔室内通入三氯氢硅作为硅源,外延腔室内温度保持1030~1060℃;在硅衬底片上低速生长本征外延层;在外延腔室内通入H<base:Sub>2</base:Sub>变流量吹扫1?3分钟清理杂质;在本征外延层上变高速生长掺杂磷烷的第一层外延层;再次通入H<base:Sub>2</base:S
一种阶跃恢复二极管用硅外延片的制备方法.pdf
本发明公开了一种阶跃恢复二极管用硅外延片的制备方法。该制备方法克服了现有阶跃恢复二极管用硅外延片工艺中存在的过渡区宽度的控制问题,在外延层生长过程中采用两段生长,先使用反复变流量的氢气吹扫一段时间,将杂质不断稀释排除出外延炉反应腔体,然后低温低速生长第一段外延,减少了气相自掺杂的影响,改善了过渡区的结构,随后使用反复变流量的氢气再吹扫一段时间,然后高温快生长第二段外延层,最终达到目标厚度和电阻率。通过外延工艺的优化,实现了常压下对衬底杂质自扩散因素的控制,缩短了过渡区的宽度,使其占外延层厚度百分比的13%
120 V超快软恢复二极管用大尺寸硅外延材料工艺研究.docx
120V超快软恢复二极管用大尺寸硅外延材料工艺研究导言:随着信息化和自动化程度的不断提高,电力电子装置在现代工业和社会生活中发挥着越来越重要的作用。电力电子装置的使用需要相应的电力半导体器件,其中二极管作为一种最基础的器件被广泛使用。超快软恢复二极管是一种新型的电力二极管,其特点是具有快速恢复时间和低反向损耗,可以应用在高电压、高电流的电力电子装置中,如工业短路软启动器、UPS逆变电源等。本文主要探讨120V超快软恢复二极管用大尺寸硅外延材料工艺研究。一、120V超快软恢复二极管基本原理超快软恢复二极管是
快速验证VCSEL外延片的工艺方法.pdf
本发明公开了快速验证VCSEL外延片的工艺方法,具体为:在外延片正面沉积一层钝化层,进行正面第一道MESA光刻,形成MESA图层,然后使用ICP蚀刻机进行蚀刻,露出高铝层,再进行湿法氧化;然后进行第二道光刻,露出15‑25微米的圆环,圆环内径区域是出光口,使光刻的形貌为下面宽上面窄,最后再进行ICP蚀刻,蚀刻掉钝化层,蚀刻到外延片的P型欧姆接触层,完成后蒸镀金属、退火处理,此时正面与背面形成比较好的欧姆接触。本发明方法快速验证所购买的外延片的质量,节约验证时间与成本;芯片厂的快速验证的电性数据反馈给外延厂