Si基短波碲镉汞材料分子束外延生长研究.docx
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Si基短波碲镉汞材料分子束外延生长研究近年来,由于短波红外及其以下频段的光电子学和信息技术的高速发展,导致了对高效、高性能红外探测器材料的需求不断增长。而Si基短波碲镉汞材料作为一种高性能和高效的红外探测器材料,已经得到广泛关注和研究。本文将阐述Si基短波碲镉汞材料分子束外延生长研究的相关内容。一、概述分子束外延技术是材料科学领域一种高效的材料制备技术,广泛应用于半导体器件和光电子器件的制备中。Si基短波碲镉汞材料作为一种高性能的红外探测材料,其制备技术也得到了广泛关注。本文将介绍Si基短波碲镉汞材料的分
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基于分子束外延的4in硅基碲镉汞材料工艺研究基于分子束外延的4英寸硅基碲镉汞材料工艺研究摘要:本文针对硅基碲镉汞(CdTeHg)材料,以分子束外延(MBE)技术为基础,研究了4英寸硅基CdTeHg材料的制备工艺。通过系统研究多个关键步骤,包括表面处理、生长优化和材料表征等。实验结果表明,通过优化工艺参数,可以得到具有良好结晶质量和界面特性的硅基CdTeHg材料。同时,我们还分析了影响材料性能的因素,并提出了进一步改进和优化的方向。关键词:分子束外延,硅基碲镉汞,材料制备,结晶质量,界面特性1.引言近年来,
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分子束外延锗基碲镉汞薄膜原位砷掺杂研究摘要:本文研究了分子束外延(MBE)生长锗基碲镉汞(CdHgTe)薄膜的原位砷掺杂方法。利用霍尔测量、光致发光(PL)和拉曼光谱对样品进行表征,并使用X射线衍射仪(XRD)和透射电子显微镜(TEM)分析了砷掺杂对晶体结构和微观形貌的影响。结果表明,砷掺杂可以提高CdHgTe薄膜的载流子浓度和机能,同时也影响了晶格结构和表面形貌。关键词:分子束外延;锗基碲镉汞薄膜;原位砷掺杂;载流子浓度;光学性能;晶格结构;表面形貌引言:CdHgTe是一种广泛应用于红外探测技术的半导体
昆明物理研究所分子束外延碲镉汞薄膜技术进展.docx
昆明物理研究所分子束外延碲镉汞薄膜技术进展标题:昆明物理研究所分子束外延碲镉汞薄膜技术进展摘要:碲镉汞薄膜(TCHgTe)因其优异的光电性能而在红外光电子学领域备受关注。昆明物理研究所分子束外延碲镉汞薄膜技术是一种制备高质量TCHgTe薄膜的关键技术。本文从技术原理、实验方法和应用方向等方面,全面探讨了昆明物理研究所分子束外延碲镉汞薄膜技术的最新进展。1.引言碲镉汞薄膜作为一种III-VI族复合半导体材料,在红外探测和光电子学领域具有广泛应用前景。分子束外延技术是制备高质量TCHgTe薄膜的有效方法之一,