氧化镓衬底GaN外延及其垂直结构LED.docx
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GaN基垂直结构LED电镀铜衬底的研究的中期报告【摘要】本研究旨在探究GaN基垂直结构LED电镀铜衬底工艺的优化和相应性能的提升。通过对不同工艺参数的优化,并使用场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)、能谱分析仪(EDS)等表征手段对样品进行表征,研究表明,不同电镀温度、电镀时间以及温升速率对铜镀层的成分、晶体结构和电化学性能均有影响。在铜现象区增加外加还原体积电流密度和缩短电解时间,铜镀层的表面形貌变得更加平整,坑洞和晶界明显减少。同时,使用电化学阻抗谱进行分析,发现优化后的样品具有
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基于图形衬底GaN基LED外延片的测试与分析随着人们对于高效能节能环保新型灯具的需求不断提高,GaN基LED逐渐成为了照明行业中的主流技术。GaN基LED是基于氮化镓材料制备的LED,其具有高发光效率,高亮度,长寿命和高可靠性等优点,被广泛应用于室内外照明、汽车照明、显示和通信等领域。本文主要基于图形衬底GaN基LED外延片的测试与分析,介绍了GaN基LED的制备工艺及其物理特性,并详细描述了外延片的测试和分析过程。一、GaN基LED的制备工艺和物理特性GaN基LED的制备主要通过金属有机气相沉积(MOC