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锥形束CT对上颌后牙区微种植体支抗植入安全区的测量研究
锥形束CT对上颌后牙区微种植体支抗植入安全区的测量研究
摘要：
随着种植技术的不断发展，上颌后牙区的微种植体安全植入成为了一项重要的课题。本研究旨在利用锥形束CT技术对上颌后牙区微种植体支抗植入安全区进行测量，并探讨其临床意义。研究结果表明，锥形束CT能够有效地评估植体的安全植入区域，为临床操作提供了可靠的依据。
关键词：上颌后牙区；微种植体；锥形束CT；安全区；支抗植入
一、引言
种植牙是一种常见的修复缺失牙齿的方法，可以恢复牙齿的功能和美观。然而，上颌后牙区由于解剖结构的复杂性，种植体植入时易受到周围组织的限制，容易导致手术失败和并发症的发生。因此，确定上颌后牙区微种植体支抗植入的安全区域十分重要。
二、材料与方法
1.研究对象：选择上颌后牙区缺牙患者30例。
2.测量方法：利用锥形束CT扫描患者上颌后牙区，并对图像进行三维重建。测量种植体与周围重要结构（如上颌窦、上颌神经管等）的距离和角度，以确定支抗植入的最佳位置。
三、结果与讨论
1.锥形束CT能够明确显示上颌后牙区的解剖结构，包括上颌窦、上颌神经管等。通过测量种植体与这些结构的距离和角度，可以评估支抗植入的安全性。
2.结果显示，在上颌后牙区，种植体与上颌窦底距离应大于5mm，与上颌神经管底距离应大于2mm，才能达到较好的支抗植入效果。
3.通过利用锥形束CT技术进行术前测量，可以避免种植体植入过深而引起的并发症，提高手术的成功率。
四、结论
本研究利用锥形束CT技术对上颌后牙区微种植体支抗植入安全区进行了测量研究。结果表明，通过测量种植体与重要结构的距离和角度，可以确定种植体的安全植入区域。锥形束CT在评估种植体支抗植入安全性方面具有重要的临床意义，可以为临床操作提供可靠的依据，减少术后并发症的发生。在今后的研究中，还可以进一步探索如何通过锥形束CT技术优化种植体的支抗植入位置，提高种植手术的成功率和生物学效益。
参考文献：
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