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锥形束CT对上颌后牙区微种植体支抗植入安全区的测量研究的开题报告
一、研究背景
随着口腔种植技术的不断发展和改进，种植体的使用已成为临床上重要的修复方法。种植体的支抗是影响其长期成功的重要因素之一。在安置微种植体时，为了保证其支抗，需要选择安全区域进行安置。锥形束CT技术具有高精度、低剂量等优点，可用于精确测量上颌后牙区微种植体的支抗植入安全区，有利于临床上更好的指导种植手术。
二、研究目的
本研究旨在通过利用锥形束CT技术，对上颌后牙区微种植体的支抗植入安全区进行测量，并分析其植入效果及安全性，为临床上的种植手术提供科学依据和指导。
三、研究方案
3.1研究对象
选取全口牙骨发育成熟的18-65岁健康受试者，其中男女各半，无口腔疾病和其他健康问题。
3.2研究方法
3.2.1分组：将受试者随机分为实验组和对照组。实验组采用锥形束CT技术测量支抗植入安全区的微种植体，对照组则采用传统的CT技术测量。
3.2.2微种植体植入：将微种植体分别植入实验组和对照组的上颌后牙区，测量并比较两组间微种植体的支抗力。
3.2.3数据分析：采用SPSS统计软件进行数据处理和收集，分析两组间的差异性，评估锥形束CT技术在微种植体支抗植入安全区测量方面的准确性和可行性。
四、预期结果
通过本研究将探讨锥形束CT技术在微种植体支抗植入安全区测量方面的应用，旨在找到一种高效，可行的临床测量手段。同时，还将分析微种植体支抗力的变化，确定安全区和最佳支抗，深入探讨微种植体植入和修复中的关键问题，为临床上的微种植体修复提供处理方法和建议。
五、研究意义
本研究将为临床种植手术提供一种准确、简便的测量手段，为明确植入安全区和选择最佳支抗提供坚实的理论基础。同时，还将探索与微种植体有关的多个问题，如支抗的相互影响，支抗的大小与支抗时间的关系等。为临床上的微种植体修复提供处理方案和建议,具有重要的临床应用价值和意义。