PBGA焊点热疲劳寿命的正交试验及回归分析.docx
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PBGA焊点热疲劳寿命的正交试验及回归分析PBGA(PlasticBallGridArray)焊点热疲劳寿命的正交试验及回归分析摘要PBGA焊点热疲劳寿命是电子器件的重要指标之一。本论文通过正交试验设计,研究了不同工艺因素对PBGA焊点热疲劳寿命的影响,并利用回归分析建立了预测模型。实验结果表明,焊接温度和焊接时间是影响PBGA焊点热疲劳寿命的主要因素。在一定范围内,随着焊接温度和焊接时间的增加,焊点热疲劳寿命呈现出先增加后减小的趋势。通过回归分析,建立了预测模型,并对模型进行了验证,结果表明建立的模型具
PBGA焊点形态虚拟和焊点热疲劳寿命预测研究的任务书.docx
PBGA焊点形态虚拟和焊点热疲劳寿命预测研究的任务书一、任务背景及目的随着电子产品应用范围的广泛发展,高可靠性和高性能电子元件成为电子产品的重要组成部分。PBGA(PlasticBallGridArray)封装该成为一种重要的电子元件封装形式,具有良好的电气性能、热学性能和机械性能等优点,已经广泛应用于移动通信、计算机、医疗器械等领域。PBGA封装的可靠性评价主要依赖于焊点的热疲劳寿命和焊点形态等参数的评估。因此,本次研究主要目的是针对PBGA焊点形态虚拟和焊点热疲劳寿命的预测进行研究,以提高PBGA封装
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基于数值模拟的PBGA封装焊点振动及热疲劳可靠性研究论文题目:基于数值模拟的PBGA封装焊点振动及热疲劳可靠性研究摘要:随着电子产品尺寸的不断缩小和功能的不断增强,电子封装技术面临着越来越大的挑战。焊点振动和热疲劳是导致封装失效的主要原因之一。因此,本文针对PBGA(PlasticBallGridArray)封装,采用数值模拟方法研究了焊点振动和热疲劳对封装可靠性的影响。通过建立三维有限元模型,分析了焊点的应力分布以及热循环加载下的温度分布,进而评估了封装的可靠性。研究结果表明,焊点振动和热疲劳对PBGA
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基于数值模拟的PBGA封装焊点振动及热疲劳可靠性研究的开题报告一、研究背景及意义近年来,随着电子设备尺寸不断缩小,面积不断增加,尤其是球栅阵列封装的广泛应用,对于电子器件的可靠性提出了更高的要求。然而,封装焊点在设备运行过程中常常受到机械振动、温度循环等因素的作用,引起焊点的疲劳破坏,从而导致器件的失效。为了提高焊点的可靠性,需要对焊点在振动和温度变化等环境下的行为进行深入的研究。数值模拟技术能够模拟焊点在不同环境下的变形、应力和疲劳破坏等行为,为设计更可靠的电子器件提供支持。因此,基于数值模拟的PBGA
工程预测焊点疲劳寿命.doc
工程预测焊点疲劳寿命作者:PeterJ.Heyes,Mikael摘要介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S―N曲线估计焊点的疲劳损伤。描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。关键词焊点疲劳有限元抗疲劳设计计算机辅助工程在汽车工业中,