4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究.docx
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4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究4H-SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究摘要欧姆接触是4H-SiC器件的关键组成部分,对器件性能有重要影响。本论文通过系统研究4H-SiC器件的n型和p型欧姆接触特性,分析了接触电阻、界面反应等方面的性质,并探究了改善接触特性的方法。实验结果表明,通过合适的表面制备和金属材料选择,可以实现低接触电阻和稳定的欧姆接触。该研究为4H-SiC器件的设计和制备提供了有益的参考。1.引言4H-SiC(4H-SiliconCarbide)作为一种广泛应用于高功率和高温器件
4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究的开题报告.docx
4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究的开题报告题目:4H-SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究开题报告一、研究背景和意义4H-SiC(四方碳化硅)作为一种新型半导体材料,具有较高的热稳定性、高耐力电性、高电子迁移率和高电场强度等优异特性,被广泛应用于高功率、高温、高频电子器件与系统。而欧姆接触则是构成半导体器件基本单元与集成电路的两种基本接触之一,对于改善器件的性能与可靠性有着至关重要的作用。因此,研究4H-SiC器件n型和p型欧姆接触特性,对于优化器件性能、提升器件工作可靠性具有极大的现实意义和
4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究的任务书.docx
4H--SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究的任务书任务书:4H-SiC器件n型和p型欧姆接触特性研究研究背景和意义:4H-SiC(4H型碳化硅)是一种广泛应用于高功率和高温的半导体材料。在近年来,研究者们对4H-SiC材料进行了深入的研究,主要是利用其高辐照、高温、半绝缘和高耐压等特性,研制出了各种应用于电力电子、光电子和微电子领域的半导体器件,如MOSFET(金属氧化物半导体场效应管)、JFET(结型场效应管)及Schottky势垒二极管等。其中,欧姆接触是4H-SiC器件中非常重要的一个环节。在Si
n型4HSiC欧姆接触的研究的中期报告.docx
n型4HSiC欧姆接触的研究的中期报告该研究旨在探究n型4H硅碳化物(4HSiC)欧姆接触特性,并开发新型高性能n型4HSiC欧姆接触。本文为该研究的中期报告。首先,我们使用光刻和胶体颗粒蚀刻等工艺制备了n型4HSiC样品。接着,通过脉冲激光沉积技术(PLD)制备了Ti/Al金属电极,这种电极在其他研究中已被证明可形成稳定的欧姆接触。我们对Ti/Al电极进行了SEM和AFM表征,发现其表面粗糙度较小且Ti和Al的分布均匀。接下来,我们使用I-V测试和Kelvin接触电阻测试仪对样品进行测试。结果显示Ti/
n型4HSiC欧姆接触的研究的任务书.docx
n型4HSiC欧姆接触的研究的任务书研究目标:研究n型4HSiC(碳化硅)欧姆接触的制备方法和性能特征,探究其在功率电子器件中的应用potential。研究内容:1.了解碳化硅材料的性质、制备及其在功率电子器件领域的应用;2.研究n型4HSiC材料性质,并选定符合要求的实验材料;3.选取合适的制备方法,制备欧姆接触样品;4.分析、测试样品的电学特性、结构特性及表面特性;5.测试样品的导电性和电导率;6.研究不同制备工艺和工作条件对欧姆接触性能的影响;7.分析和挖掘碳化硅材料的其他潜在应用。研究方法:1.文