球栅阵列封装无铅植球工艺研究的任务书.docx
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球栅阵列封装无铅植球工艺研究的任务书.docx
球栅阵列封装无铅植球工艺研究的任务书任务书一、研究目的和背景球栅阵列封装是现代电子封装技术中的一项重要技术,广泛应用于集成电路封装中。随着环保意识的增强和相关法规的出台,无铅植球工艺成为了行业发展的趋势。因此,本次研究旨在探究球栅阵列封装无铅植球工艺,为相关行业提供技术支持和指导。二、研究内容和方法1.研究内容(1)无铅植球工艺的理论研究:深入了解无铅植球工艺的原理和相关知识,明确无铅植球工艺与传统植球工艺的差异和优势。(2)封装工艺与结构分析:分析球栅阵列封装的工艺流程和封装结构特点,探讨无铅植球工艺在
无铅无铜锡合金与用于球栅阵列封装的锡球.pdf
一种无铅无铜锡合金,包含0.01~3.0wt%的银、0.01~5.0wt%的铋、0~2.0wt%的锑、0.005~0.1wt%的镍、0.005~0.02wt%的锗及余量的锡。本发明的无铅无铜锡合金经焊接后所得的结构,例如焊锡凸块,会具备优异的机械冲击可靠度,同时拥有良好的焊接性、延展性、抗氧化能力及冷热循环可靠度。
无铅塑料球栅阵列封装热失效分析及可靠性研究的任务书.docx
无铅塑料球栅阵列封装热失效分析及可靠性研究的任务书任务书一、任务背景无铅塑料球栅阵列(PBGA)封装是现代集成电路封装技术中重要的一种封装形式,具有小体积、高密度、高可靠性、易于批量生产等优点,在计算机、通讯、汽车、工业控制等领域得到广泛应用。然而,随着电子工业技术的不断发展,无铅封装技术已经成为发展趋势,因为它可以避免铅对环境和人体健康造成的影响。然而,无铅封装技术对PBGA封装的可靠性产生了影响,因为无铅焊料的熔点较高,需要更高的温度来完成焊接,容易导致热失效问题。为了保证PBGA封装在高温环境下的可
球栅阵列封装构造.pdf
本发明公开一种球栅阵列封装构造,其利用导线支撑架来支撑对应的导线,以防止所述导线在垂直方向上发生线塌缺陷,并有效区隔上下层导线。同时,所述导线支撑架具有粗糙化绝缘表面,也能进一步防止所述导线在水平方向上发生偏移及冲线缺陷。因此,可有效避免任二相邻上下层导线或左右导线发生接触短路的问题。
球栅阵列封装的应力应变及热失效研究的任务书.docx
球栅阵列封装的应力应变及热失效研究的任务书任务书:研究题目:球栅阵列封装的应力应变及热失效研究研究背景:随着电子设备的不断发展,封装技术也得到了不断的创新和进步。其中,球栅阵列封装(BGA)是一种广泛应用于微电子封装领域的重要封装技术,具有尺寸小、密度高、能耗低等优点。然而,BGA封装也存在一些缺陷问题,其中主要包括应力应变及热失效问题。应力应变问题主要是由于BGA封装引出线与芯片之间存在热膨胀不匹配等因素导致,而热失效问题则是由于BGA封装中存在热应力、热膨胀等物理效应导致。研究目的:本研究旨在探究球栅