关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨.docx
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关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨.docx
关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨Title:ReliabilityandFatigueLifeAnalysisofBGAPackageSolderJointsAbstract:BallGridArray(BGA)packageshavebecomeincreasinglypopularinelectronicmanufacturingduetotheirhighpincountsandcompactsize.Thispaperaimstoexplorethereliabilityandfatigu
子模型法预测BGA封装中焊点的热疲劳寿命的开题报告.docx
子模型法预测BGA封装中焊点的热疲劳寿命的开题报告一、选题背景和意义近年来,电子产品的性能和功能越来越强大,而其中大量的高密度封装电子器件在工作过程中会产生高温热应力,导致焊点的热疲劳寿命降低,从而影响器件的可靠性和寿命。因此,如何准确预测焊点的热疲劳寿命,对于提高产品的可靠性和研发新的高可靠性产品具有重要的意义。目前常用的预测方法有数值模拟、试验验证和子模型法等。其中,子模型法具有计算简单、精度高等优点,能够快速地分析不同条件下焊点的热疲劳寿命。本研究将采用子模型法,建立BGA封装的热疲劳寿命预测模型,
BGA焊点可靠性工艺研究.docx
BGA焊点可靠性工艺研究随着电子产品的发展,BGA(BallGridArray)封装技术在电子制造业中越来越受到重视。BGA封装技术可以提供更高的集成度、更高的信号传输速率、更好的散热效果和更小的占用空间,因此成为电子制造业的主流技术之一。但是,BGA焊接过程中存在一些问题,如焊点开裂、断裂、短路等问题,这些问题都严重影响着BGA焊点的可靠性。BGA焊接过程中存在一些可以影响焊点可靠性的因素,包括:焊接温度、焊接时间、焊接压力、焊接材料、PCB板的质量等。这些因素在焊接过程中必须得到充分的控制,才能保证焊
BGA焊点可靠性研究综述.docx
BGA焊点可靠性研究综述BGA(BallGridArray)芯片封装方式在现代电子制造中得到了广泛应用。相比于传统的QFN封装方式,BGA封装具有更多优势,如控制焊点的均匀性和密度、提高电气和热性能、减小占用空间等。然而,BGA焊点的可靠性问题一直是电子制造业的重点关注的问题。因为焊点的失效会导致设备的故障或失效,从而影响设备的可靠性、寿命和稳定性。因此,本文将从不同角度综述BGA焊点可靠性研究。首先,BGA焊点失效模式是影响其可靠性的关键因素之一。BGA焊点失效模式主要分为板面焊接失效、球固定失效、球焊
工程预测焊点疲劳寿命.doc
工程预测焊点疲劳寿命作者:PeterJ.Heyes,Mikael摘要介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S―N曲线估计焊点的疲劳损伤。描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。关键词焊点疲劳有限元抗疲劳设计计算机辅助工程在汽车工业中,