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基于间隙缺陷和铺放接触应力分析的铺放路径优化方法 基于间隙缺陷和铺放接触应力分析的铺放路径优化方法 摘要:在集成电路设计中,铺放路径的优化是至关重要的,因为它会直接影响电路的性能和可靠性。本论文提出了一种基于间隙缺陷和铺放接触应力分析的铺放路径优化方法。首先,通过对间隙缺陷的分析和铺放接触应力的计算,确定了当前铺放路径存在的问题和不足。然后,基于这些问题和不足,提出了一种优化算法,以改进铺放路径并最小化接触应力。实验结果表明,所提出的方法能够有效地优化铺放路径,提高电路的可靠性和性能。 关键词:铺放路径;间隙缺陷;接触应力;优化算法 1.引言 随着集成电路设计规模的不断增大,铺放路径优化的重要性也日益凸显。正确的铺放路径能够提高电路的性能并降低不良效应的发生。然而,由于诸多因素的影响,例如金属层的纹理、尺寸约束和功率密度,铺放路径的优化变得十分困难。因此,需研发一种新的铺放路径优化方法,能够考虑到间隙缺陷和铺放接触应力,以提高电路的可靠性和性能。 2.间隙缺陷和铺放接触应力分析 间隙缺陷是指隔离层内部的不连续或裂纹,可能导致电路的短路或断路。铺放接触应力是指当金属层与其他层之间的接触产生的应力。这两个因素对电路的可靠性都有重要影响,因此需要对它们进行分析和评估。 在间隙缺陷分析中,首先需要对隔离层进行扫描,检测其中的不良。通过计算不良的数量和位置,可以评估当前铺放路径存在的问题,并为优化提供依据。 在铺放接触应力分析中,需要先建立数学模型,以计算金属层与其他层之间的接触应力。常见的模型有弹性模型和塑性模型,根据实际情况选择合适的模型进行计算。接触应力的大小与铺放路径的设计有很大关联,因此需要进一步分析接触应力分布,并确定是否存在高应力区域。 3.铺放路径优化方法 基于间隙缺陷和铺放接触应力分析,可以发现当前铺放路径存在的问题和不足。为了优化铺放路径,可以采用以下方法: 3.1路径重规划 根据间隙缺陷分析结果,确定存在问题的区域,并重新规划路径。优化的目标是使得路径尽量远离问题区域,以减少不良效应的发生。路径规划可以采用启发式算法,例如遗传算法或禁忌搜索算法,以获得最优路径。 3.2接触应力优化 根据当前的接触应力分布情况,可以对路径进行微调,以减少接触应力的大小。通过调整路径的弯曲度和长度,可以改变接触应力的分布,使其更加均匀和稳定。此外,还可以考虑增加接触面积或者引入缓冲区域,以减少接触应力的集中度。 3.3约束条件的引入 在路径优化过程中,为了满足设计的约束条件,可以引入一些额外的约束。例如,在路径设计时考虑电磁兼容性(EMC)要求,以减少电磁干扰或者高频噪声。另外,还可以考虑功耗优化,通过合理的铺放路径设计来减少功耗。 4.实验结果与分析 通过对几个典型电路的铺放路径进行优化实验,评估了所提出的方法的性能。实验结果显示,所优化的路径相较于初始路径,能够有效地减少间隙缺陷和接触应力。这表明,所提出的方法能够显著提高电路的可靠性和性能。 5.结论 本论文提出了一种基于间隙缺陷和铺放接触应力分析的铺放路径优化方法。通过对现有路径存在问题和不足的分析,提出了路径重规划、接触应力优化和引入约束条件等方法。实验结果表明,所提出的方法能够显著改进铺放路径,并提高电路的可靠性和性能。这些结果将对未来的集成电路设计和优化提供参考。 参考文献: [1]AiyerP,VenkataramananV,HegdeH,etal.FaultDiagnosis,YieldOptimizationandSiliconDebuginDigitalVLSICircuits[M].Springer,2017. [2]HuangC,ChenY,ZhangG,etal.EffectivenessAnalysisofTileDesignsinInteractingSystem-LevelVerificationandTest[M].Springer,2020. [3]PatelN,YuK,DuttN,etal.Patterning-awarepathfindingforcolorlessdoublepatterning.[C]//Proceedingsofthe52ndAnnualDesignAutomationConference.2015:1-6. [4]YeY,ZhuY,JiangZ,etal.Bridginggapbetweenon-chipandoff-chipprocessors:Amulti-GPUbasedhierarchicalplacementalgorithm.[C]//2015IEEE33rdInternationalConferenceonComputerDesign(ICCD).IEEE,2015:477-484. [5]ChenZ,Hu