Si基GaN异质结构无金欧姆接触研究的任务书.docx
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Si基GaN异质结构无金欧姆接触研究的任务书任务书:一、题目Si基GaN异质结构无机欧姆接触研究二、研究背景GaN的宽带隙、高饱和漂移速度和高热稳定性使其成为近年来颇受关注的材料,被广泛应用于高频、高功率和光电器件领域。研究表明,Si基GaN异质结构是一种有望实现低电阻无金属接触的新型器件结构。然而,Si基GaN异质结构的无金属接触电阻仍然是一个挑战,其解决成为该领域的研究热点。三、研究目的研究Si基GaN异质结构无金属欧姆接触的制备和性能,系统地研究了界面条件对Si/GaN结构的质量和电学性质的影响,探
Si基GaN异质结构无金欧姆接触研究的开题报告.docx
Si基GaN异质结构无金欧姆接触研究的开题报告摘要随着半导体技术的不断发展,Si基GaN异质结构作为一种新型半导体器件越来越受到人们的关注。在该异质结构中,金属欧姆接触是设备性能的关键因素之一。然而,Si基GaN异质结构中的金属欧姆接触不如GaN基异质结构中的金属欧姆接触稳定。因此,本文拟对Si基GaN异质结构无金欧姆接触进行研究,探究其相关机理,为异质结构的应用提供参考。关键词:Si基GaN异质结构;金属欧姆接触;稳定性;机理。AbstractWiththecontinuousdevelopmentof
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Si基GaNHEMT低温欧姆接触工艺研究Si基GaNHEMT低温欧姆接触工艺研究摘要:近年来,由于其在高功率高频电子器件中的优异性能,基于GaN材料的高电子迁移率晶体管(HEMT)逐渐成为研究的热点。其中,Si基GaNHEMT因其低成本、高可靠性等优点,在功率放大器、射频开关等领域得到广泛应用。而欧姆接触作为Si基GaNHEMT的关键元件之一,其性能直接影响了器件的整体性能和可靠性。本文通过分析Si基GaNHEMT低温欧姆接触工艺的关键问题,并对各种工艺方法进行比较和评价,以期为Si基GaNHEMT的工艺
Si基及图形衬底GaN异质外延研究.docx
Si基及图形衬底GaN异质外延研究概述GaAs比Si基衬底有更好的电子传输性能,因此在电子学领域得到了广泛应用。但是,随着功率电子器件的需求逐渐增加,GaN异质外延材料因其高电子迁移率和高电场韧性而成为研究热点。Si基衬底已被广泛应用于GaN异质外延中。本文将讨论Si基衬底对GaN异质外延的影响,以及GaN异质外延中的图形衬底。Si基衬底的影响在GaN异质外延过程中,Si基衬底作为搭接层被使用。在制备过程中,Si衬底的平整度对外延层的质量和晶格的匹配至关重要。Si衬底的表面形貌直接影响到GaN异质外延质量
GaN基器件欧姆接触的研究的任务书.docx
GaN基器件欧姆接触的研究的任务书任务名称:GaN基器件欧姆接触的研究任务描述:GaN材料因其优异的电学性能,在高功率和高速电子器件中具有广泛的应用前景。然而,GaN表面与金属电极接触的问题一直是制约其应用的瓶颈。为了克服这一问题,欧姆接触技术被广泛使用,但是仍然存在一些挑战和难点,例如界面反应、晶体结构匹配等。因此,本任务旨在研究GaN基器件的欧姆接触问题。任务目标:1.系统研究GaN材料与金属电极之间的欧姆接触问题,探究欧姆接触的形成机制。2.研究欧姆接触过程中GaN材料表面与金属电极之间的界面反应及