

TDI红外焦平面探测器芯片结构与性能研究.docx
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TDI红外焦平面探测器芯片结构与性能研究.docx
TDI红外焦平面探测器芯片结构与性能研究摘要:本论文对TDI红外焦平面探测器芯片进行了研究,从其结构和性能两个方面进行了探讨。首先介绍了TDI红外焦平面探测器的基本原理和工作模式,然后详细阐述了其芯片结构组成和一些关键技术,包括材料选择、掺杂技术、微细加工工艺等。接着,对TDI红外焦平面探测器的性能进行了分析,包括响应特性、灵敏度、分辨率等。最后,对TDI红外焦平面探测器的发展趋势和未来应用进行了展望。关键词:TDI红外焦平面探测器;结构;性能;发展趋势;未来应用。一、引言近年来,随着红外技术的不断发展和
TDI红外焦平面探测器芯片结构与性能研究的开题报告.docx
TDI红外焦平面探测器芯片结构与性能研究的开题报告一、研究背景和意义人类对红外技术的研究与应用已有几十年的历史,随着科技的不断进步,红外技术已经成为现代战争、安防、热成像、医学诊断等领域的重要工具之一。而其中的关键技术之一,就是红外焦平面探测技术。红外焦平面探测器是一种测量物体红外辐射能力的元件,近年来在热成像、遥感及空间探测技术等领域广泛应用。其中,TDI(TimeDelayIntegration)技术是一种光电成像技术,可以在低光强等条件下提高探测器的信噪比,从而提高图像质量。对于TDI红外焦平面探测
红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器.pdf
本申请实施例提供一种红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器。该电路包括:有效象元阵列单元、备选单元、参考盲象元单元、电容跨阻放大器单元及选择输出单元。备选单元包括选择子单元及多个备选参考象元子单元。参考盲象元单元包括一行参考盲象元子单元,其中一个参考盲象元子单元经选择子单元与每个备选参考象元子单元电性连接,剩余的其它每个参考盲象元子单元与有效象元阵列单元中对应的一列有效象元子单元电性连接。由此,可根据实际情况从备选单元中选出无加工缺陷的备选参考象元子单元作为参考象元子单元,以使电路正常工作,该电路具有良率高
红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器.pdf
本申请实施例提供一种红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器。该电路包括:有效象元阵列单元、备选单元、参考盲象元单元、电容跨阻放大器单元及选择输出单元。备选单元包括多个模块选择开关及至少一列备选模块,每列备选模块中包括至少两个备选模块,每个备选模块包括与一个模块选择开关电性连接的选择子单元及与该选择子单元电性连接的多个阵列排布的参考遮光象元子单元。所有位于同一行的参考遮光象元子单元电性连接,所有参考遮光象元子单元的总行数与有效象元阵列单元中有效象元子单元的行数相同。参考盲象元单元中的一个参考盲象元子单元与备选
红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器.pdf
本申请实施例提供一种红外焦平面读出电路及红外焦平面探测器。该电路包括:有效象元阵列单元、参考遮光象元单元、参考盲象元单元、电容跨阻放大器单元及选择输出单元。参考遮光象元单元中的每个参考遮光象元子单元与有效象元阵列中对应的一行有效象元子单元电性连接,且参考盲象元单元包括的一列参考盲象元子单元中的其中一个参考盲象元子单元与每个参考遮光象元子单元电性连接。由此,在不设置TEC的情况下,可通过控制每个参考遮光象元子单元与对应的一行有效象元子单元的通电时间相同,进而保证对应的参考遮光象元子单元及有效象元子单元受到的