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非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管与肖特基二极管电学稳定性研究的开题报告
一、研究背景
随着半导体技术的不断发展，非晶材料逐渐成为各种器件所应用的重要材料之一。其中，非晶铟镓锌氧基(InternationalConferenceonTechnologyofPlasticity)薄膜逐渐得到广泛应用。该材料不仅具有较高的电学性能，且其制备工艺简单，成本较低。但是，与晶体管相比，非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管的电学稳定性需要进一步研究和改进。
肖特基二极管是一种具有单向导电特性的器件，具有应用广泛的特点。由于其高效、高速、低功耗等优点，肖特基二极管被广泛应用于通信、计算机、电力电子等领域。然而，在肖特基二极管的实际应用中，由于器件操作条件的不同，其电学稳定性也存在较大的差异，因此需要对器件的电学稳定性进行深入研究。
二、研究内容
本研究选取非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管作为研究对象，主要研究以下内容：
1.分析非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管的电学特性，探究其电性能是否符合要求；
2.分析肖特基二极管的电学特性，研究其在不同工作条件下的电学稳定性并进行比较分析；
3.通过比较分析非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管的电学性能，从理论和实践两个角度总结两种器件在电学性能上存在的差异，并探究改进的措施。
三、研究意义
通过对非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管的电学稳定性进行研究，可以更好地深入了解这两种器件在实际应用中存在的问题以及需要改进的方向。同时，还能进一步推动相关材料及器件的新型设计与研发工作，为相关行业提供更稳定、高效、低成本的器件。
四、研究方法
在研究过程中，本研究将采用实验研究与理论分析相结合的方法，主要包括以下步骤：
1.实验研究：根据研究要求，制备非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管，并对其进行电学测试，以获得对器件性能的详细了解；
2.理论分析：基于所得实验数据，采用理论分析的方法，对非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管的电学稳定性进行比较与分析；
3.总结结论：基于实验数据和理论分析，总结两种器件在电学性能上存在的差异，并提出改进措施。
五、研究计划
本研究拟采用如下研究计划：
1.前期准备阶段：阅读相关文献，熟悉器件制备流程和测试方法，准备实验流程、设备和耗材以及相关安全准备工作；
2.实验研究阶段：进行非晶铟镓锌氧基薄膜晶体管和肖特基二极管的制备，并进行相关电学测试；
3.理论分析阶段：基于实验数据，对两种器件的电学稳定性进行对比分析，并结合相关理论进行深入探讨；
4.撰写研究报告：根据实验数据和理论分析结果，撰写研究报告并进行专业编辑和修改。