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硅图形衬底上半极性GaN的MOCVD生长和特性研究的任务书 任务书 一、任务背景介绍 GaN作为III-V族化合物半导体的代表,具有宽的能隙、高的电子迁移率、优异的机械性能、较小的热膨胀系数等独特的物理特性,被广泛应用于光电子学领域,如LED、LD、硅基太阳能电池、雷达、激光器、夜视仪、半导体能带工程、生物医学探针等。其中,GaN材料在LED技术领域的应该最为突出,在照明、显示等方面具有广阔的应用前景和市场潜力。 随着半导体照明技术的不断发展和市场需求的增加,对氮化物材料的表面品质、晶体质量等方面的要求也越加严格。目前发展较快的III族氮化物材料主要包括AlN、GaN、InN等,其中GaN材料的制备技术是氮化物研究中关注的热点之一。尤其是反型GaN半极性材料已经成为具有独特物理特性的材料之一,是实现GaN电子器件良好晶体质量的基本手段,具备了GaAs所缺乏的优势。但是,反型半极性GaN的表面质量较差,增长较难,制备需要更加高超的生长技术和加工工艺。 硅基材料作为半导体材料在电子工业中得到了广泛应用,其热导率和导热系数均比GaN高,热稳定性和成熟度也更高。研究GaN在硅基玻璃相关衬底上的性能,对于推动GAN器件的发展和提高其性能具有重要意义。 因此,本次课题将着重研究硅玻璃衬底上的半极性GaN材料,探究其制备及特性,为GaN材料的研究和开发提供更加丰富的技术手段和理论基础。 二、课题研究目的 本课题旨在研究硅玻璃衬底上半极性GaN的MOCVD生长工艺,优化生长条件和制备过程,并对其光电特性进行系统分析和研究,探究半极性GaN的特性和应用前景。具体研究任务如下: 1.研究硅玻璃衬底上半极性GaN的MOCVD生长工艺和制备过程,探究不同生长条件下对材料性能的影响。 2.对不同生长条件下制备的半极性GaN材料进行光电性能分析和表征,提高材料的质量和应用性能。 3.建立半极性GaN材料的制备与光电性能之间的关系模型,为半极性GaN材料的工程应用提供理论基础和技术支持。 三、研究内容和技术路线: 1.对半极性GaN的生长原理和MOCVD生长工艺进行了详细的调研和学习,为本课题开展提供了理论基础。 2.初步实验分析表明,硅玻璃衬底上半极性GaN的生长过程对于表征费米能级、能带结构和晶格畸变等方面的研究具有极大意义。因此,本研究将优化生长条件,包括生长时间、镓流量、温度和反应气压等参数的控制,以获得尽可能高的晶体质量和表面平整度。 3.在实验中将采用扫描电子显微镜(SEM)、X-射线衍射(XRD)、Raman光谱、PL光谱等手段对半极性GaN材料进行表征,研究材料的结构、晶格畸变程度、光电特性和表面缺陷等。通过数据分析,建立半极性GaN材料的生长与光电性能之间关系的模型。 4.通过研究半极性GaN材料的性能和特点,为GaN材料的制备与应用提供理论基础和技术支持,推动其在光电子中的研究与应用。 四、研究创新点 1.本课题将半极性GaN材料应用于硅玻璃衬底上的生长,为GaN材料的研究提供了新思路; 2.优化半极性GaN材料的生长条件和制备工艺,提高材料晶体质量和光电特性,使其更加适用于光电子领域; 3.研究半极性GaN材料的结构、性能和特点,为其在可见光LED、显示屏、半导体激光器、高能电子元器件等方面的广泛应用提供支持和保障。