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GOI衬底制备和Aln+-Ge欧姆接触研究的任务书 任务书 任务名称:GOI衬底制备和Aln+-Ge欧姆接触研究 任务背景: GOI(GrapheneonInsulator)是一种新型的二维材料,因其优异的导电性、热导性和光学特性,引起了广泛的研究兴趣。GOI的制备方法主要有化学气相沉积、物理气相沉积、机械剥离等多种技术。然而,传统的制备方法存在着GOI与衬底之间的剥离问题,这对其应用和研究造成了困难。因此,研究如何解决GOI剥离问题,对GOI的应用和研究具有重要意义。 另外,欧姆接触是电子器件中的重要部分,它与半导体材料的接触特性直接影响器件的性能。近年来,研究发现Aln+-Ge欧姆接触在高频、高功率电子器件中具有广泛的应用。因此,研究如何制备高质量的Aln+-Ge欧姆接触,对电子器件的研发和应用具有重要意义。 任务目的: 1.研究GOI的制备方法,解决GOI与衬底之间的剥离问题,制备高质量的GOI。 2.研究制备Aln+-Ge欧姆接触的方法,提高其制备质量,为高频、高功率电子器件的研发提供支持。 3.建立评价高质量Aln+-Ge欧姆接触特性的测试方法,为其在电子器件中的应用提供科学依据。 任务内容: 1.GO/RGO制备方法的研究 ①GO/RGO材料的制备方法 选择合适的方法制备高质量的GO/RGO材料,包括化学气相沉积、物理气相沉积、机械剥离等方法,并比较不同方法的优缺点。 ②GO/RGO材料的剥离方法 研究GO/RGO材料与衬底之间的剥离问题,考虑采用高温热压、溶剂剥离、化学剥离等方法优化制备过程,提高GO/RGO材料的质量和稳定性。 ③GO/RGO材料的表征 采用原子力显微镜、透射电子显微镜等手段对制备的GO/RGO材料进行表征,分析其形貌、结构、电学性质等。 2.Aln+-Ge欧姆接触的制备和测试 ①Aln+-Ge材料的制备 研究制备高质量的Aln+-Ge材料的方法,比较不同方法的优缺点,并在此基础上优化制备过程。 ②Aln+-Ge欧姆接触的制备 研究制备Aln+-Ge欧姆接触的方法,考虑采用电子束蒸发、磁控溅射等方法制备Aln+-Ge接触层,并进行制备参数的优化。 ③Aln+-Ge欧姆接触的测试与评价 建立评价高质量Aln+-Ge欧姆接触特性的测试方法,并对Aln+-Ge欧姆接触的接触电阻、界面反应、接触热阻等特性进行测试和评价,为其在电子器件中应用提供科学依据。 任务计划: 1月份:GO/RGO材料制备方法的比较,选择合适的制备方法; 2月份:GO/RGO材料剥离方法研究与GO/RGO材料表征; 3月份:Aln+-Ge材料制备以及Aln+-Ge欧姆接触制备方法研究; 4月份:Aln+-Ge欧姆接触测试与评价方法的建立; 5月份:数据整理、结果分析、报告撰写。 任务要求: 1.具有材料、物理、电子等相关专业背景,熟悉材料制备、表征和测试技术; 2.具有一定的团队合作精神,能够融入团队,协调沟通; 3.具有较强的动手能力和实验技能,能够独立完成实验操作和数据处理; 4.能够按时完成任务计划并撰写报告; 5.具有一定的英语文献阅读和写作能力,能够进行文献搜索和整理。 预期成果: 1.建立适合制备高质量GO/RGO材料和Aln+-Ge欧姆接触的方法,为后续的研究提供参考; 2.解决GO/RGO材料与衬底之间的剥离问题,制备出高质量的GO/RGO材料; 3.建立了评价Aln+-Ge欧姆接触特性的测试方法,并对其中的关键参数进行了测试和评价; 4.撰写并提交一篇科技论文或项目报告。 参考文献: 1.LiX,CaiW,AnJ,etal.Large-areasynthesisofhigh-qualityanduniformgraphenefilmsoncopperfoils[J].Science,2009,324(5932):1312-1314. 2.YavariF,RafieeJ,RafieeMA,etal.High-qualitygrapheneviamicrowavereductionofsolution-exfoliatedgrapheneoxide[J].Science,2010,330(6010):1530-1534. 3.OhSH,KangBH,HerrA,etal.Ni/GeSchottkybarrierandNiGeohmiccontactonn-typeGegrownoninsulatorbylow-temperatureplasma-enhancedchemical-vapordeposition[J].AppliedPhysicsLetters,2006,89(24):242103. 4.ChokshiMA,PandaSK.ReviewontheelectricalpropertiesofAl/Geco