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VLSI低功耗可测性设计技术研究的任务书
任务书
题目：VLSI低功耗可测性设计技术研究
一、研究背景和意义
随着电子技术不断发展，VLSI芯片设计已经成为计算机系统和电子电路领域中的一个重要研究方向。在面积限制和功耗限制条件下，如何在保证功能正确性的前提下降低芯片的功耗成为了一个重要问题。另外，芯片的可测性也是非常重要的，可以有效地减少芯片测试时的时间和成本。
因此，本课题选择探究VLSI低功耗可测性设计技术，希望通过研究该领域，提高现有芯片设计技术的水平，为电子电路和计算机系统的发展作出贡献。
二、研究内容和方法
2.1研究内容
（1）VLSI低功耗技术的基本原理和方法。
（2）VLSI芯片的测试技术和可测性分析方法。
（3）低功耗可测性设计技术的基本思路和实现方法。
（4）实际案例分析。
2.2研究方法
（1）文献综述法：对现有的VLSI芯片设计、低功耗技术和可测性分析等方面的文献资料进行综合分析和研究。
（2）实验方法：通过实际案例的设计和实现，验证低功耗可测性设计技术的有效性和可行性。
三、预期成果和工作计划
3.1预期成果
（1）掌握VLSI低功耗可测性设计技术的基本原理和方法，熟练掌握测试技术和可测性分析方法。
（2）提出一些低功耗可测性设计的思路和实现方法，为实际设计提供参考。
（3）在实际案例分析中验证所提出的低功耗可测性设计技术的有效性和可行性。
3.2工作计划
（1）前期准备工作：查阅相关文献资料，了解研究现状，熟悉基本原理和方法。
（2）中期工作：制定低功耗可测性设计的具体思路和实现方法；设计并实现相应的低功耗可测性设计方案。
（3）后期工作：通过实际案例验证所提出的低功耗可测性设计技术的有效性和可行性。根据实验结果进行改进和完善。
四、研究条件和经费支持
4.1研究条件
本课题所需的研究条件主要包括：教授、助教和实验室、计算机、书籍等。
4.2经费支持
经费支持主要由研究单位和项目申请人自筹。经费主要用于文献购置和实验设备租赁等费用。
五、研究团队和分工
5.1研究团队
本课题研究团队由一名负责人和若干名研究成员组成。
5.2分工
（1）负责人：制定研究计划、指导研究方向、组织研究团队进行研究。
（2）研究成员：参与文献调查、实验设计和实验实施。
六、参考文献
[1]JianguangSun,QinkePeng,andShengliLu.Low-powerVLSIself-test:methodsanddesignfortestability.Boston,MA:KluwerAcademicPublishers,2004.
[2]BehzadRazavi.DesignofAnalogCMOSIntegratedCircuits.NewYork:McGraw-HillEducation,2016.
[3]T.Bechtold,C.Schneider,andH.J.Wunderlich.“Low-powerLogicBISTConsideringTestApplicationTime.”ProceedingsoftheIEEEInternationalTestConference,2003,pp.281-290.
[4]S.N.RashidandA.P.Chandrakasan.“ALowPower,Scan-BasedDFTArchitectureforSoCs.”ProceedingsoftheIEEEInternationalConferenceonComputerDesign,2006,pp.221-226.