基于纳米模型的CNTFET器件机理及模型研究的开题报告.docx
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SOI器件低温机理及模型研究的中期报告本研究旨在探究SOI(Silicon-on-insulator)器件的低温机理及建立相应的模型。为了达到此目的,我们进行了许多实验并分析了大量的数据。截至目前,我们已完成实验的一半,并在此报告中介绍我们的研究成果。1.实验方法为了研究SOI器件的低温机理,我们采用了以下实验方法:1.1.核磁共振(NuclearMagneticResonance)核磁共振实验是通过测量样品的放射频信号来分析样品中的原子核的一种方法。我们在所选SOI器件样品中引入了钇原子,并在低温情况下