预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/2
2/2

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

SiC表面碳团簇及其钝化的第一性原理研究的中期报告 此报告是对SiC表面碳团簇及其钝化的第一性原理研究的中期报告。 背景 SiC表面碳团簇及其钝化是重要的研究方向之一,这是因为SiC材料可以用于高功率电子器件等不同领域的应用。在这个领域,表面和表面反应是非常重要的。为了了解SiC表面碳团簇和其钝化,第一性原理计算是必要的。 方法 我们使用VASP软件包和基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理计算,对SiC(0001)表面上的碳团簇和其钝化进行研究。这里,我们选择了带有22个碳原子的碳团簇,并用氢原子来钝化表面。我们使用了Perdew-Burke-Ernzerhof(PBE)交换-相关函数进行计算,并考虑了vanderWaals相互作用。我们的计算包括对表面能、稳定性、电子结构和电荷密度的分析。 结果 我们发现,在SiC表面上,碳团簇的结构对SiC的表面能有重要影响。在未钝化的情况下,碳团簇造成SiC表面能的变化最大,这表明它们是SiC表面化学反应的重要的催化剂。然而,钝化行为降低了SiC表面的反应活性。通过分析电子结构和电荷密度,我们发现表面的电荷转移和电荷重分布可以解释这个现象。此外,我们还研究了表面反应中的过度态,并对表面上的分子吸附进行了一些初步的研究。 结论 我们对SiC表面碳团簇和其钝化进行了第一性原理计算,并分析了表面能、稳定性、电子结构和电荷密度。结果表明,碳团簇是SiC表面化学反应的重要催化剂,而钝化行为有助于降低表面反应的活性。通过对表面的电荷转移和电荷重分布的分析,我们可以解释这个现象。