SbTe,InSbTe,GeSbTe相变存储材料的光电性质比较的中期报告.docx
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SbTe,InSbTe,GeSbTe相变存储材料的光电性质比较的中期报告.docx
SbTe,InSbTe,GeSbTe相变存储材料的光电性质比较的中期报告SbTe、InSbTe和GeSbTe是一类常见的相变存储材料,它们具有很好的可重写性、高速度、低能耗等优点,已经被广泛应用于非易失性存储器中。本次中期报告主要比较了这三种材料的光电性质,具体内容如下:1.光学吸收实验结果表明,SbTe、InSbTe和GeSbTe在近红外波段内都有很强的光学吸收。其中,InSbTe在800~1000nm波段内的吸收率最高,达到了80%以上。而SbTe和GeSbTe在此波段内的吸收率则分别约为60%和70
相变存储材料GeSbTe的结构与相变机理研究的开题报告.docx
相变存储材料GeSbTe的结构与相变机理研究的开题报告一、选题背景与意义信息时代的发展离不开数据存储技术的不断提高。相变存储技术在高密度、高速度、低功耗、长寿命方面的优势将大大推动其在未来数据存储市场的应用。相变存储材料GeSbTe是其中最具代表性和潜力的一种,已承担了40年以上的实践和研究。GeSbTe的相变行为是由其特殊的晶体结构所决定的。因此,对GeSbTe的结构、相变机理进行研究,是相变存储技术实际应用的关键。二、研究目的和意义_本课题旨在对GeSbTe的结构与相变机理深入探究,为相变存储技术的进
SbTe基相变存储材料辐射效应及损伤机理研究的综述报告.docx
SbTe基相变存储材料辐射效应及损伤机理研究的综述报告SbTe是一种钙钛矿结构的材料,具有良好的电学、热学、光学性质,因此被广泛应用于相变存储器中。但是,SbTe在实际应用中会受到辐射性损伤的影响,这会引起其电学性能的退化,降低存储器的稳定性和可靠性。因此,对于SbTe材料的辐射效应及损伤机理进行研究具有重要的意义。首先,SbTe材料受到接近紫外线波长的紫外线照射时,会发生光致相变现象,即从“高”态转化为“低”态,在此过程中伴随着膨胀和收缩。众所周知,紫外线辐射会破坏材料的晶格结构,造成损伤。根据实验结果
相变材料的结构、电光性质及光电混合信息存储研究的开题报告.docx
相变材料的结构、电光性质及光电混合信息存储研究的开题报告引言相变材料是一类能够在其晶体结构发生相变(例如从晶体到非晶体、从晶体的一种结构到另一种结构)时表现出显著物理性质变化的材料。近年来,随着信息技术的飞速发展,相变材料在信息存储领域得到了广泛的应用。相比传统的磁性存储器,相变材料具有读写速度快、能耗低、数据易于可擦写等优点。因此,对相变材料的研究变得尤为重要。本文将着重介绍相变材料的结构特点、电光性质以及光电混合信息存储研究的相关进展。一、相变材料的结构相变材料的晶体结构与相变类型密切相关。常见的相变
基于PRAM的GeSbTe合金相变研究的中期报告.docx
基于PRAM的GeSbTe合金相变研究的中期报告本研究旨在通过基于并行随机访问机(PRAM)的模拟,研究GeSbTe合金的相变行为。在中期报告中,我们主要进行了以下内容的研究和讨论:1.PRAM的建模和验证。我们使用C++编写了一个PRAM模拟器,并在多个测试程序中进行了验证。结果表明,该模拟器可以准确地模拟PRAM的并行计算和内存访问。2.GeSbTe合金相变温度的模拟。我们使用原子模拟的方法,模拟了GeSbTe合金在不同温度下的原子结构和能量状态,并计算了相变温度。结果表明,GeSbTe合金在较低的温