一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107656101A(43)申请公布日2018.02.02(21)申请号201710892719.4(22)申请日2017.09.27(71)申请人上海旻艾信息科技有限公司地址200120上海市浦东新区临港新城飞渡路66号6幢(72)发明人王浩王刚张伟冉燕(74)专利代理机构南京申云知识产权代理事务所(普通合伙)32274代理人王云(51)Int.Cl.G01R1/04(2006.01)G01R31/26(2014.01)F16D71/00(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图4页(54)发明名称一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构(57)摘要本发明公开一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，包括连接底板、行星减速器、旋转轴、轴承和制动板；所述的连接底板横向放置，所述的制动板安装在连接底板的右端构成一L形板；所述的行星减速器横向安装在制动板的右端面，且制动板上还设置有一安装孔；所述的轴承安装在连接底板上。本发明的旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转，行星减速器的输入端安装旋转手轮，方便人工操作，输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动，通过将本装置安装在半导体测试旋转机架上可以帮助半导体测试机实现人工旋转，而且通过给行星减速器设置一定的传动比，使测试机能够缓慢的旋转，增加旋转时的平稳性；达到省时省力增加工作效率的目的。CN107656101ACN107656101A权利要求书1/1页1.一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：包括连接底板(1)、行星减速器(2)、旋转轴(3)、轴承(4)和制动板(5)；所述的连接底板(1)横向放置，所述的制动板(5)安装在连接底板(1)的右端构成一L形板；所述的行星减速器(2)横向安装在制动板(5)的右端面，且制动板(5)上还设置有一安装孔(51)；所述的轴承(4)安装在连接底板(1)上，所述的旋转轴(3)安装在轴承(4)中，且旋转轴(3)的右侧轴端与行星减速器(2)的输出轴相对应，旋转轴(3)的右侧轴端从安装孔(51)伸入与行星减速器(2)的输出轴对接安装成一体。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的制动板(5)的安装孔(51)中还设置有一锁紧圈(52)，所述的旋转轴(3)安装在锁紧圈(52)中，所述的锁紧圈(52)的一侧设置有开口，且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块(53)，且上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的上孔壁设置有相对应的通孔(54)，而下层的锁紧块(53)上安装有一锁紧螺杆(55)，该锁紧螺杆(54)竖直向上从上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的通孔(54)伸出到制动板(5)外部，且在锁紧螺杆(54)的端部还安装有锁紧螺母(55)。3.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的旋转轴(3)的左端端部还安装有连接圆盘(6)，所述的连接圆盘(6)上还设置有四个均匀排布的腰形槽(7)。4.根据权利要求3所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的连接圆盘(6)上还通过腰形槽(7)安装有一安装板(8)，所述的安装板(8)上还设置有螺纹安装孔。5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的行星减速器(2)的输出端还安装有旋转手轮(9)。6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的行星减速器(2)的输出传动比为80:1。2CN107656101A说明书1/3页一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构技术领域[0001]本发明属于半导体检测设备，具体涉及一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构。背景技术[0002]如图1所示，现有的半导体测试机安装在方管机架上实现固定和移动的功能。但是在半导体测试机在调试和使用过程中，工作人员需要频繁的进行接线操作来调试测试机。而半导体测试机的一些接线端口设置在测试机的底部，工作人员每次进行接线操作都需要弯腰操作，接线调试非常的不方便，而且维修的时候也会非常的不方便，大大降低了工作人员的工作效率；因此亟待研究一种可以使半导体测试机旋转的旋转机架，以及安装在旋转机架上的旋转机构。发明内容[0003]本发明的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构。[0004]技术方案：本发明解决问题所采用的技术方案为：一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，包括连接底板、行星减速器、旋转轴、轴承和制动板；所述的连接底板横向放置，所述的制动板安装在连接底板的右端构成一L形板；所述的行星减速器横向安装在制动板的右端面，且制动板上还设置有一安装孔；所述的轴承安装在连接底板上，所述的旋转轴安装在轴承中，且旋