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ZnO，SiC薄膜的X射线衍射研究暨高分子体系的微束散射研究的中期报告
本研究的中期报告旨在介绍对ZnO和SiC薄膜的X射线衍射研究以及高分子体系的微束散射研究的进展情况。
1.ZnO和SiC薄膜的X射线衍射研究
通过对单晶ZnO和SiC样品的X射线衍射分析，我们已经获得了详细的晶格结构信息。通过这些数据，我们确定了ZnO和SiC样品的晶体结构，优化了结构参数，并分析了晶格畸变和缺陷信息。在进一步分析中，我们将研究薄膜的生长机制，以及对其晶体结构和性能的影响。
2.高分子体系的微束散射研究
为了探讨高分子体系的内部结构，我们采用了微束散射技术。通过研究高分子体系中的各种相互作用，如双键交联和相分离等，我们将确定它们对材料力学性质的影响。此外，我们还将研究高分子体系与小分子溶剂之间的相互作用，以便更好地理解该体系的溶解动力学。
总之，这项研究得到了很好的进展，并将有助于更好地理解ZnO和SiC薄膜的晶体结构和失配现象，以及高分子体系的内部结构与性能之间的关系。我们将继续努力，并期待在未来的研究中获得更多深入的结论。