原子力显微镜及其在表面和界面性质研究中的应用的任务书.docx

原子力显微镜及其在表面和界面性质研究中的应用的任务书
任务描述：
本任务是针对原子力显微镜（AtomicForceMicroscope,AFM）及其在表面和界面性质研究中的应用进行阐述。
任务要求：
1.简述原子力显微镜的基本原理，包括扫描方式、探针和样品之间的交互作用等。
2.阐述原子力显微镜在表面和界面性质研究中的应用，包括表面形貌、表面电荷密度、磁场分布等方面的应用。
3.分析原子力显微镜在表面和界面性质研究中的优势和局限性。
4.结合实际应用案例，探讨原子力显微镜在材料科学、生物医学等领域的应用前景。
参考文献：
1.Zhao,Y.,Zeng,Y.,Zhang,Y.,&Cui,X.(2019).AtomicForceMicroscopy:BasicPrinciples,OperationalModesandApplications.Springer.
2.Merlen,A.(2019).AtomicForceMicroscopyinMaterialsScienceandEngineeringResearch.Elsevier.
3.Liao,H.,&Li,J.(2019).AtomicForceMicroscopyforLifeSciencesandBiology.Springer.
4.Fan,Z.,&Yang,J.(2018).ApplicationsofAtomicForceMicroscopyinMaterialsScience.InMicroscopy:Science,Technology,ApplicationsandEducation(pp.423-429).FormatexResearchCenter.
5.Lu,G.,&Ma,J.(2018).SurfaceandInterfaceAnalysisUsingAtomicForceMicroscopy.InMicroscopy:Science,Technology,ApplicationsandEducation(pp.1415-1423).FormatexResearchCenter.