轴瓦厚度多点测量装置及其测量方法.pdf
茂学****23
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轴瓦厚度多点测量装置及其测量方法.pdf
本发明提供了一种轴瓦厚度多点测量装置及其测量方法,该测量装置包括测量机构、可转动机构、支撑座、支撑机构、固定机构、第一电机以及第二电机,所述支撑机构包括底座和固定在所述底座上的支架,轴瓦能够通过所述固定机构安装在所述可转动机构上,所述测量机构安装在所述支架上,所述可转动机构可拆卸地安装在所述支撑座上,并通过齿轮传动系统与所述第一电机配合,所述支撑座通过齿轮齿条传动系统与所述第二电机配合并能够相对于所述底座轴向移动,所述第一电机能够带动所述可转动机构转动,所述第二电机能够带动所述支撑座移动。本发明采用伺服电
测定微量厚度变化的多点纸币测量装置及其测量方法.pdf
一种测定微量厚度变化的多点纸币测量装置,包括机架、纸币传送组件、传感器阵列和测量电路组;纸币传送组件设置在机架下部的;传感器阵列设置在纸币传送组件的上方并与纸币传送组件相连接;测量电路组设置在机架上方并与传感器阵列相连的;测量电路组的一端与传感器阵列相连,另一端通过串行方式连接到点钞机处理器上;纸币传送组件包括主动轮和与主动轮啮合连接的从动轮。本发明测定微量厚度变化的多点纸币测量装置具有多达48个测量点,可以检测到0.02mm的微量厚度变化,使得纸币厚度测量更加精确。采用串行方式接口,成本低廉。
厚度测量装置及厚度测量方法.pdf
本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有:第一透光构件,其具有第一参照面;第二透光构件,其与第一透光构件相向设置,具有第二参照面;第一投光部,其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光;第一受光部,其接收来自第一参照面的反射光,并且经由第一参照面接收来自试样的反射光;第二投光部,其经由第二参照面向试样照射来自光源的光;第二受光部,其接收来自第二参照面的反射光,并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光;分光部,其对由第一受光部接收
多点式光学测量装置以及其测量方法.pdf
本发明揭露了一种多点式光学测量装置及测量方法,该多点式光学测量装置用以测量一有源光源,并至少包含分光模块、第一色品图色彩对应函数滤波片、第二色品图色彩对应函数滤波片、第一感光矩阵以及第二感光矩阵。该多点式光学测量装置通过对待测光源进行分光而使本发明对待测元件的光学分析速度将不受色轮的转速上限影响。另外,借由本发明的感光矩阵设计,本发明亦能对多束待测光线同时地进行感测或分析。本发明亦使用了色品图色彩对应函数滤波片来取代现有的彩色滤光片,使待测光线的频谱能被精准地控制在指定的范围内,以使过滤后光线的精度得以达
一种厚度测量装置及其测量方法.pdf
本发明公开了一种厚度测量装置及其测量方法,涉及电感产品测量技术领域;包括底座、滑动连接在底座上的滑座、位于底座一端的用于的支撑座、一端连接在滑座上的用于测量滑座和支撑座间距的千分表。本发明的有益效果是:测量的时候,滑座和支撑座的间距就是产品的厚度,将由点量测改为由面量测,测量厚度数据更可靠,更真实,更精确。脚踏开关控制数据的传输,直接由数据线传入电脑减少手动出错的几率;结构简单,成本小。