一种物体尺寸测量方法及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108036724A(43)申请公布日2018.05.15(21)申请号201711248378.3(22)申请日2017.12.01(71)申请人武汉万集信息技术有限公司地址430070湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷金融港B5座6楼(72)发明人胡狄胡攀攀徐威(74)专利代理机构北京路浩知识产权代理有限公司11002代理人王莹李相雨(51)Int.Cl.G01B11/02(2006.01)G01C15/00(2006.01)权利要求书3页说明书8页附图4页(54)发明名称一种物体尺寸测量方法及装置(57)摘要本发明提供一种物体尺寸测量方法及装置。所述方法包括：获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息和/或长度信息。本发明提供的物体尺寸测量方法及装置，使用方便，能快速测量物体尺寸。CN108036724ACN108036724A权利要求书1/3页1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；和/或，根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当光斑个数为1时，所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中所述光斑的直径对应的像素点个数；所述光斑的实际尺寸信息为所述光斑的实际直径大小。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息，包括：根据如下公式一确定所述待测量物体的宽度信息：W1＝(N2/N1)*D+Offset1；公式一其中，各字母的含义为N2为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；D为所述光斑实际尺寸的直径；Offset1为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值；所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：根据如下公式二确定所述待测量物体的长度信息：L2＝(N2’/N1)*D+Offset2；公式二其中，各字母的含义为N2’为所述待测量物体的顶部轮廓的长度对应的像素尺寸信息；N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；D为所述光斑实际尺寸的直径；Offset2为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当光斑个数为多个时，多个光斑的中心点位置在同一条直线上；所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中两个距离最远光斑的中心点连线对应的像素点个数；所述光斑的实际尺寸信息为所两个距离最远的光斑中心点的实际距离。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所2CN108036724A权利要求书2/3页述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息，包括：根据如下公式三确定所述待测量物体的宽度信息：W3＝(Lm/Ln)*S+Offset3；公式三其中，各字母的含义为Lm为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；Ln为所述距离最远的两个光斑的像素距离；S为所述距离最远的两个光斑中心点的实际距离；Offset3为弧度偏差值；所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：根据如下公式四确定所述待测量物体的长度信息：L4＝(Lm’/Ln)*S+Offset4公式四其中，各字母的含义为Lm’为所述待测量物体的