GaN多量子阱蓝光LED性能的影响的开题报告.docx

热冲击对Si基板InGaN/GaN多量子阱蓝光LED性能的影响的开题报告
题目：热冲击对Si基板InGaN/GaN多量子阱蓝光LED性能的影响
一、研究背景
随着半导体照明技术的迅速发展，蓝光LED已经成为新一代照明的重要技术。在蓝光LED制备中，GaN材料已经成为重要的材料，而将InGaN量子阱生长在GaN上可以获得更高的光电转换效率。然而，在研究中发现，LED的性能会受到很多因素的影响，其中热冲击是一个重要因素。
二、研究目的
本研究旨在探究热冲击对Si基板InGaN/GaN多量子阱蓝光LED性能的影响，分析和研究LED器件在热冲击条件下的光电特性，找出热冲击对LED器件的影响规律，为进一步提高LED器件的性能提供参考依据。
三、研究方法
本研究将采用材料的制备、器件的制备和性能测试等综合手段，具体包括：
1.材料的制备：采用分子束外延技术，在Si基板上生长InGaN/GaN多量子阱结构，制成蓝光LED的芯片。
2.器件的制备：将制备好的蓝光LED芯片切割成小片，进行金属电极的吸附和退火等处理，制成完整的LED器件。
3.性能测试：测试LED器件在恒定电流下的I-V特性曲线和光谱特性曲线，并测量器件的发光效率和热阻等性能参数。
4.热冲击实验：将制备好的LED器件暴露在高温高湿的环境中，进行不同程度的热冲击实验，对实验结果进行分析和评估。
四、预期结果
本研究将得出热冲击对Si基板InGaN/GaN多量子阱蓝光LED性能的影响规律，找出其影响机理，并分析其对LED器件性能的影响程度。预计热冲击对LED的影响将表现在光谱特性、光效、热阻等性能参数上，通过研究将为进一步提高LED器件的性能提供理论依据。