一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108919378A(43)申请公布日2018.11.30(21)申请号201811141938.X(22)申请日2018.09.28(71)申请人重庆大学地址400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号(72)发明人刘新荣邓志云韩亚峰黄建林李洋刘锦辉黄俊杰李超寇苗苗杜利兵王林枫熊飞许彬(74)专利代理机构北京同恒源知识产权代理有限公司11275代理人赵荣之(51)Int.Cl.G01V13/00(2006.01)G01S7/40(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法(57)摘要本发明涉及一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，属于地质雷达测距技术领域，该方法包含如下步骤：S1：在磨损前或磨损后在测距轮上均匀缠绕一圈耐磨损的绝缘材料；S2：选取一条已测定长度的直线段测线，测量参数选取测距轮的原始参数对该测线段进行地质雷达检测；S3：通过对比地质雷达图像上测线长度与实际测线长度，对测距轮参数进行修正。本发明简便可行，保护层在磨损后可以无限次更换，不影响测距轮的使用，可以显著降低仪器购置成本。同时本发明确保了原始数据采集的准确性，通过参数校正，采集数据准确，避免了测距轮参数改变后对测线长度造成的影响。CN108919378ACN108919378A权利要求书1/1页1.一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：该方法包含如下步骤：S1：在磨损前或磨损后在测距轮上均匀缠绕一圈耐磨损的绝缘材料；S2：选取一条已测定长度的直线段测线，测量参数选取测距轮的原始参数对该测线段进行地质雷达检测；S3：通过对比地质雷达图像上测线长度与实际测线长度，对测距轮参数进行修正。2.根据权利要求1所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：所述绝缘材料为橡胶材料。3.根据权利要求2所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：步骤S1具体为：在磨损前或磨损后在测距轮上采用胶水均匀缠绕一圈耐磨损的绝缘材料。4.根据权利要求3所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：所述绝缘材料的厚度为3mm。5.根据权利要求1所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：步骤S2中所选取的直线段测线长度至少为100米。6.根据权利要求5所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：步骤S2中，所述测距轮的原始参数为测距轮的原始直径。7.根据权利要求6所述的一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，其特征在于：步骤S3中，对对测距轮参数进行修正满足：其中，D为测距轮实际直径，D0为测距轮原始直径，L为已知的测线长度，L0为雷达图像上测线长度。2CN108919378A说明书1/3页一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法技术领域[0001]本发明属于地质雷达测距技术领域，涉及一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法。背景技术[0002]测距轮作为地质雷达常用的数据采集方式之一，广泛应用于长距离地质雷达检测中。检测过程中，测距轮表面不断磨损，严重情况下，测距轮直径发生较大变化且表面磨损程度并不均一。在测距轮磨损严重后可进行更换，但价格昂贵，且多数情况下现场检测并没有备用的测距轮，而且即便更换也不能有效解决测距轮磨损的问题。而如果不对测距轮进行处理，地质雷达检测测线长度与实际测线长度会有一定的误差，磨损严重后也会影响数据采集，给检测工作带来极大的干扰。[0003]鉴于此，有必要对测距轮进行防磨损处理，考虑到测距轮周边磨损程度并不均一，直接测量直径有一定误差，同时需要对其参数进行校正，确保地质雷达数据采集的准确性。发明内容[0004]有鉴于此，本发明的目的在于提供一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，为地质雷达用测距轮提供有效的保护措施，且通过参数校正，确保数据采集的准确性。[0005]为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：[0006]一种地质雷达用测距轮磨损后修复及参数标定方法，该方法包含如下步骤：[0007]S1：在磨损前或磨损后在测距轮上均匀缠绕一圈耐磨损的绝缘材料；[0008]S2：选取一条已测定长度的直线段测线，测量参数选取测距轮的原始参数对该测线段进行地质雷达检测；[0009]S3：通过对比地质雷达图像上测线长度与实际测线长度，对测距轮参数进行修正。[0010]进一步，所述绝缘材料为橡胶材料。[0011]进一步，步骤S1具体为：在磨损前或磨损后在测距轮上采用胶水均匀缠绕一圈耐磨损的绝缘材料。[0012]进一步，所述绝缘材料的厚度选为3mm。[0013]进一步，步骤S2中所选取的直线段