壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109035270A(43)申请公布日2018.12.18(21)申请号201810776871.0(22)申请日2018.07.13(71)申请人OPPO（重庆）智能科技有限公司地址401120重庆市渝北区回兴街道霓裳大道24号(72)发明人董康(74)专利代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司44224代理人方高明(51)Int.Cl.G06T7/12(2017.01)G06T7/181(2017.01)权利要求书1页说明书11页附图4页(54)发明名称壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质(57)摘要本申请涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。所述方法包括：获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。上述方法中，可以根据采样点对应的截面轮廓确定采样点的测量区域，从而根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。CN109035270ACN109035270A权利要求书1/1页1.一种壳料测量方法，其特征在于，包括：获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果；对所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到所述壳料的边框的测量统计结果。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域，包括：将所述定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为所述采样点的测量区域。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果，包括：获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值；将至少两个高度中位值的差值作为所述采样点的测量结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量结果包括粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度。6.根据权利要求5所示的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述定点位置确定所述采样点的粘胶面宽度。7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述定点位置确定所述采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域；获取所述粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值；根据所述粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度；根据所述粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。8.一种壳料测量装置，其特征在于，包括：轨迹获取模块，用于获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；测试区域确定模块，用于确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；结果确定模块，用于根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。9.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述的壳料测量方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。2CN109035270A说明书1/11页壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质技术领域[0001]本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。背景技术[0002]随着计算机技术的发展，窄边框成为现代电子设备的主流，在窄边框点胶工艺中，需要对粘胶面的宽度、粘胶面到LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)仓的高度等尺寸进行测量。然而，传统技术中，通过高度规对高度进行测量、采用二次元测量及切片测量对粘胶面宽度进行测量，存在测量效率低的问题。发明内容[0003]本申请实施例提供一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，可以提高测量效率。[0004]一种壳料测量方法，包括：[0005]获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；[0006]确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据