绕线检查方法及绕线检查装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109075677A(43)申请公布日2018.12.21(21)申请号201780023964.X(74)专利代理机构北京天昊联合知识产权代理(22)申请日2017.03.31有限公司11112代理人何立波张天舒(30)优先权数据2016-0852112016.04.21JP(51)Int.Cl.H02K15/095(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日H02K11/20(2006.01)2018.10.16(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2017/0136952017.03.31(87)PCT国际申请的公布数据WO2017/183425JA2017.10.26(71)申请人三菱电机株式会社地址日本东京(72)发明人水野健大田顺一中田智网干稔长谷川治之权利要求书2页说明书13页附图25页(54)发明名称绕线检查方法及绕线检查装置(57)摘要在将绕线线圈(1)形成于芯片(20)的固定件(10)的绕线检查方法中，具有：第二取得工序(步骤ST8)，其是取得芯片(20)的绕线后的图像的工序；第二提取工序(步骤ST9)，其是从图像进行卷绕于芯片(20)的绕线线圈(1)的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序(步骤ST12)，根据绕线线圈(1)的轮廓数据对绕线线圈(1)是否合格进行判定。CN109075677ACN109075677A权利要求书1/2页1.一种绕线检查方法，其是将绕线线圈形成于芯片的固定件的绕线检查方法，在该绕线检查方法中，具有：第二取得工序，其是取得所述芯片的绕线后的图像的工序；第二提取工序，其是从所述图像进行卷绕于所述芯片的所述绕线线圈的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序，根据所述绕线线圈的轮廓数据对所述绕线线圈是否合格进行判定。2.根据权利要求1所述的绕线检查方法，其中，具有：第一取得工序，其是取得所述芯片的绕线前的图像的工序；以及第一提取工序，从所述图像进行所述芯片的轮廓数据的提取，第一判定工序使用所述芯片的轮廓数据进行所述绕线线圈的判定。3.根据权利要求2所述的绕线检查方法，其中，在通过绕线装置形成多个类别的所述固定件的绕线线圈的绕线检查方法中，具有判别工序，该判别工序对所述固定件的类别进行判别，所述第二判定工序与通过所述判别工序判别出的上述固定件的类别相对应而进行判定。4.一种绕线检查方法，其是将形成有绕线线圈的多个芯片以环状设置的固定件的绕线检查方法，在该绕线检查方法中，具有：第二取得工序，取得所述芯片的绕线后的图像即后图像；第二提取工序，从所述图像进行所述芯片的所述绕线线圈的轮廓数据的提取；比较工序，对在环状中成为相邻的部位的所述芯片彼此的所述绕线线圈的轮廓数据进行比较；以及相邻判定工序，基于所述比较工序的结果对相邻的所述芯片的所述绕线线圈是否合格进行判定。5.根据权利要求4所述的绕线检查方法，其中，具有第二判定工序，该第二判定工序根据所述绕线线圈的轮廓数据对所述绕线线圈是否合格进行判定。6.根据权利要求1、4或5中任一项所述的绕线检查方法，其中，具有：匝取得工序，取得所述芯片的绕线的第一匝部的匝图像；匝提取工序，从所述匝图像进行所述第一匝部的轮廓数据的提取；以及匝判定工序，根据所述第一匝部的轮廓数据及所述芯片的轮廓数据对所述第一匝部是否合格进行判定。7.根据权利要求2或3所述的绕线检查方法，其中，在通过绕线装置形成所述绕线线圈的绕线检查方法中，具有第一判定工序，该第一判定工序根据所述芯片的轮廓数据对所述芯片的向所述绕线装置的设置是否合格进行判定。8.一种绕线检查装置，其是将绕线进行卷绕而将绕线线圈形成于芯片的固定件的绕线检查装置，该绕线检查装置具有：取得部，其取得通过拍摄芯片的拍摄部拍摄到的所述芯片的图像；2CN109075677A权利要求书2/2页第二提取部，其从所述芯片的图像对所述绕线线圈的轮廓数据进行提取；以及第二判定部，其对所述绕线线圈是否合格进行判定。9.一种绕线检查装置，其是将形成有绕线线圈的多个芯片以环状设置的固定件的绕线检查装置，该绕线检查装置具有：取得部，其取得通过拍摄芯片的拍摄部拍摄到的所述芯片的图像；第二提取部，其从所述芯片的图像对所述绕线线圈的轮廓数据进行提取；比较部，其对在环状中成为相邻的部位的所述芯片彼此的所述绕线线圈的轮廓数据进行比较；以及相邻判定部，其基于所述比较部的比较结果对相邻的所述芯片的所述绕线线圈是否合格进行判定。10.根据权利要求8所述的绕线检查装置，其中，在通过绕线装置形成所述绕线线圈的绕线检查装置中，具有：第一提取部，其从所述芯片的图像进行所述芯片的轮廓数据的提取；判别部，其根据所述芯片的轮廓数据对所述固定件的类别进行判别；第一判定部，其根据所述芯片