Ⅲ族氮化物半导体材料的结构分析和磁学改性研究的中期报告.docx
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Ⅲ族氮化物半导体材料的结构分析和磁学改性研究的中期报告本中期报告主要介绍了针对Ⅲ族氮化物半导体材料的结构分析和磁学改性研究的进展情况。一、Ⅲ族氮化物半导体材料的结构分析目前,基于实验和理论计算的多种结构分析方法已经被应用于Ⅲ族氮化物半导体材料的研究中。其中,X射线衍射、拉曼光谱、透射电子显微镜和高分辨透射电镜等方法被广泛应用于分析晶体材料的结构、晶格畸变以及缺陷等。在实验方面,通过X射线衍射技术可以确定半导体晶体的结构参数,包括晶格常数、晶格对称性、原子坐标及其相对位置等信息。斯托克斯-爱因斯坦关系可以将
Ⅲ族氮化物半导体异质结构二维电子气和深能级研究的中期报告.docx
Ⅲ族氮化物半导体异质结构二维电子气和深能级研究的中期报告本文介绍了Ⅲ族氮化物半导体异质结构(AlGaN/GaN和InAlN/GaN)中二维电子气(2DEG)和深能级的研究进展和一些新的研究成果。在AlGaN/GaN异质结构中,2DEG的形成是由于材料极性的产生,使得电子在Ga极性侧的GaN界面堆积,形成2DEG。采用传统的表征方法,例如霍尔测量和电性测量,可以得到2DEG的迁移率和浓度等基本参数。一些进一步的研究表明,由于GaN界面的缺陷,2DEG的性质和分布不均匀性是复杂的。因此,采用更深入和先进的表征
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Ⅲ族氮化物及稀氮化物性质研究的中期报告.docx
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