CCD非接触几何量测量系统的设计与实现的任务书.docx
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CCD非接触几何量测量系统的设计与实现的任务书.docx
CCD非接触几何量测量系统的设计与实现的任务书任务书一、任务背景在现代制造业中,计量技术的发展已经成为关键技术之一,尤其是非接触几何量测技术的应用越来越广泛。CCD(ChargeCoupledDevice)非接触几何量测技术是一种高速、高精度、高灵敏度的三维测量技术,已经广泛应用于机械、电子、航空航天、汽车等领域。目前市场上的CCD非接触几何量测系统已经相对成熟,但是根据用户需求,需要开发一套高精度、高效率、高可靠性的CCD非接触几何量测系统,以满足制造业对高质量、高效率、高可靠性的测量需求。因此,本项目
利用线阵 CCD 非接触测量材料变形量的方法.pdf
第29卷第4期光电工程Vol.29,No.42002年8月Opto-ElectronicEngineeringAug,2002文章编号:1003-501X(2002)04-0020-04利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法王庆有,于涓汇,郭青,张盛彬(1.天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津300072;2.光电信息技术科学教育部重点实验室,天津300072)摘要:用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。
一种基于CCD的非接触尺寸测量系统.docx
一种基于CCD的非接触尺寸测量系统基于CCD的非接触尺寸测量系统摘要尺寸测量是工业制造中的一个重要环节,它对于确保产品质量和满足设计要求至关重要。然而,传统的尺寸测量方法往往需要接触物体,这可能引入误差和损坏,因此非接触式的尺寸测量系统越来越受关注。本文介绍了一种基于CCD的非接触尺寸测量系统,它利用CCD摄像机和图像处理算法来实现高精度的尺寸测量。通过实验验证,本系统具有较高的测量精度和稳定性,可广泛应用于工业生产中的尺寸测量。关键词:非接触尺寸测量、CCD摄像机、图像处理算法、精度、稳定性1.引言尺寸
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基于线阵CCD的非接触式直径测量系统研究的任务书任务书题目:基于线阵CCD的非接触式直径测量系统研究一、任务背景和研究内容直径是许多物理量(如长度、体积、质量、压力等)的基础之一,直径测量在工业生产、科研实验等领域中具有重要作用。传统的直径测量方法一般都是基于接触,但是它们在实际应用过程中受到环境、测量物体的特性等因素的影响较大,不够精准。为了解决这个问题,非接触式直径测量技术应运而生。本任务旨在研究基于线阵CCD的非接触式直径测量系统,实现对直径的高精准测量。具体内容包括:(1)建立光学传感系统并进行校
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的任务书.docx
基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究的任务书任务书任务题目:基于线阵CCD的非接触微位移测量系统研究任务概述:本项目的主要研究方向是基于线阵CCD的非接触微位移测量系统,通过该系统可以实现高精度的微位移测量,广泛应用于机械制造、光学、电子、医疗器械等领域。该系统具有测量准确度高、测量时间短、操作方便等优点。本项目旨在通过对该系统的研究,能够深入了解该系统的原理和性能,实现对微位移的精确测量。任务分析:1.任务目标分析:(1)研究线阵CCD成像原理及其在微位移测量中的应用。(2)了解微位移的相关原理和测