毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109633775A(43)申请公布日2019.04.16(21)申请号201811654159.X(22)申请日2018.12.29(71)申请人同方威视技术股份有限公司地址100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层申请人清华大学(72)发明人赵自然游燕金颖康马旭明解欢(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任公司11021代理人张启程(51)Int.Cl.G01V8/22(2006.01)G01V8/00(2006.01)权利要求书2页说明书11页附图7页(54)发明名称毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法(57)摘要公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件，包括多面体转镜和第三反射板，多面体转镜能够绕其转动轴线转动，以使得多面体转镜上的多个反射板轮流用作第一反射板接收并反射来自第一被检对象的毫米波/太赫兹波波束；多个反射板中的与第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板接收并反射来自第二被检对象的毫米波/太赫兹波波束；斩波器，被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。CN109633775ACN109633775A权利要求书1/2页1.一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和斩波器，所述准光学组件包括：多面体转镜，所述多面体转镜的每个侧面分别设置有反射板，所述多面体转镜能够绕其转动轴线转动，以使得多个反射板轮流用作第一反射板来接收并反射第一被检对象位于第一视场不同位置的部分自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波波束；多个所述反射板中的与所述第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板来接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波波束；和第三反射板，所述第三反射板适应于将来自所述第二反射板的毫米波//太赫兹波反射到所述斩波器上；所述斩波器位于所述第一反射板的反射波路和所述第三反射板的反射波路上，所述斩波器被配置成在任一时刻仅来自所述第一反射板的毫米波/太赫兹波或仅来自所述第三反射板的毫米波/太赫兹波反射或透射到所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，所述斩波器绕其中心轴线转动以使来自所述第一反射板和所述第三反射板的毫米波/太赫兹波交替地由所述毫米波/太赫兹波探测器阵列接收；以及所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束。2.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述准光学组件还包括聚焦透镜，所述聚焦透镜位于所述斩波器和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列之间。3.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述准光学组件还包括第一聚焦透镜和第二聚焦透镜，所述第一聚焦透镜位于所述第一反射板和所述斩波器之间，所述第二聚焦透镜位于所述第二反射板和所述第三反射板之间。4.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括吸波材料，所述吸波材料适用于吸收经由所述斩波器反射的来自所述第一反射板的毫米波/太赫兹波，以及经由所述斩波器透射的来自所述第三反射板的毫米波/太赫兹波。5.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述多面体转镜的所述反射板的数量为m个，其中，6≥m≥3。6.根据权利要求5所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，m个所述反射板与所述转动轴线均是平行的。7.根据权利要求5所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，m个所述反射板与所述转动轴线之间的角度沿着所述多面体转镜的旋转方向递增或递减。8.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述斩波器包括至少一个叶片。9.根据权利要求8所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，多个所述叶片等间隔地围绕所述中心轴线设置。10.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括壳体，所述准光学组件和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列位于所述壳体内，所述壳体的相对侧壁上分别设置有供来自所述第一被检对象的波束穿过的第一窗口和供来自所述第二被检对象的波束穿过的第二窗口。11.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括适用于驱动所述多2CN109633775A权利要求书2/2页面体转镜转动的第一驱动装置。12.根据权利要求1所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括适用于驱动所述斩波器转动的第二驱动装置。13.根据权利要求1-12中任一项所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括：数据处理装置，所述数据处理装置与所述毫米波/太赫兹波