一种微推力架精度测量装置及测量方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110307925A(43)申请公布日2019.10.08(21)申请号201910558922.7(22)申请日2019.06.26(71)申请人北京航空航天大学地址100191北京市海淀区学院路37号(72)发明人汤海滨刘一泽鲁超章喆王一白任军学(74)专利代理机构北京航智知识产权代理事务所(普通合伙)11668代理人黄川史继颖(51)Int.Cl.G01L5/00(2006.01)G01L25/00(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图2页(54)发明名称一种微推力架精度测量装置及测量方法(57)摘要本发明公开了一种微推力架精度测量装置及测量方法，在微推力架的定架上固定一定架加长架，在定架加长架上固定第一测量支架，在第一测量支架上固定一定滑轮，缠绕于定滑轮上的绳索的两端分别接砝码盘和微推力架的动架，通过在砝码盘中加入已知质量的砝码来提供一个已知的推力，利用微推力架对提供的已知推力进行测量，通过比较微推力架测量得到的推力与砝码盘提供的已知推力的大小，可以确定微推力架的测量精度，可以避免由于微推力架的测量精度较低导致推力的测量误差较大致使在后续设计中产生更为严重的不良影响的问题；上述微推力架精度测量装置，结构简单，使用方便，具有极高的普适性，可用于各种类型的微推力架上测量微推力架的测量精度。CN110307925ACN110307925A权利要求书1/1页1.一种微推力架精度测量装置，其特征在于，包括：定架加长架，位于所述微推力架的定架的延伸方向上与所述定架固定连接，与所述微推力架的动架相对设置；第一测量支架，在预定位置与所述定架加长架固定连接，顶部具有凹槽；定滑轮，位于所述第一测量支架的凹槽内，中心轴固定于所述第一测量支架上；砝码盘，与缠绕于所述定滑轮的圆周上的绳索的一端固定连接；所述绳索的另一端与所述动架固定连接；通过在所述砝码盘内加入砝码，模拟推力器对所述动架产生推力。2.如权利要求1所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，所述定架加长架为U型架，包括：与所述定架的延伸方向平行设置且顶端分别与所述定架的两个侧面固定连接的两根支撑条、与每根所述支撑条垂直设置且与每根所述支撑条的末端固定连接的滑动轨道；所述第一测量支架，在所述滑动轨道上滑动至所述预定位置与所述滑动轨道固定连接，与所述滑动轨道所在平面垂直设置，位于所述滑动轨道面向所述动架的一侧。3.如权利要求2所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，每根所述支撑条的顶端通过螺栓和螺母与所述定架的侧面固定连接。4.如权利要求2所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，所述滑动轨道通过螺栓和螺母与每根所述支撑条的末端固定连接。5.如权利要求2所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，所述第一测量支架通过螺栓和螺母与所述滑动轨道固定连接。6.如权利要求1-5任一项所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，穿过所述定滑轮的中心轴的旋转轴搭在所述第一测量支架的顶部。7.如权利要求1-5任一项所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，还包括：与所述动架固定连接的第二测量支架；所述第二测量支架为L型支架；所述绳索的另一端与所述第二测量支架固定连接，且所述第二测量支架绑定所述绳索的位置与推力器的中心位置位于同一水平面。8.如权利要求7所述的微推力架精度测量装置，其特征在于，所述第二测量支架通过螺栓和螺母与所述动架固定连接。9.一种如权利要求1-8任一项所述的微推力架精度测量装置的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：将所述微推力架精度测量装置安装于所述微推力架上；S2：利用所述微推力架的标定系统进行标定，得到标定系数；S3：在所述微推力架精度测量装置的砝码盘中加入砝码，模拟推力器产生推力；S4：利用得到的标定系数，对所述微推力架精度测量装置产生的推力进行测量，得到利用所述微推力架测得的推力；S5：将利用所述微推力架测得的推力与所述微推力架精度测量装置产生的推力进行比较，得到所述微推力架的测量精度。2CN110307925A说明书1/5页一种微推力架精度测量装置及测量方法技术领域[0001]本发明涉及电推进技术领域，尤其涉及一种微推力架精度测量装置及测量方法。背景技术[0002]化学推进主要通过推进工质的化学反应释放能量并将工质喷出产生反推力。与化学推进不同的是，电推进是利用电能加热或者电离推进剂加速喷射而产生推力的一种反作用式推力器。相比于传统的化学推进，电推进具有比冲高、推力小、可多次点火的优点。发展电推进已经成为未来的发展趋势，我国也将在以后的卫星上应用全电推进。[0003]目前，电推力器多用于卫星的轨道转移和位置保持，电推力器的比冲、功率以及推力等性能都对电推力器的评价有着极其重要的意义。对于电推力器而