圆筒体表面检查装置及圆筒体表面检查方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110402386A(43)申请公布日2019.11.01(21)申请号201880017052.6(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所(22)申请日2018.03.0211256代理人杨宏军(30)优先权数据2017-0523102017.03.17JP(51)Int.Cl.G01N21/952(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日G01B11/30(2006.01)2019.09.09G06T1/00(2006.01)(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2018/0079172018.03.02(87)PCT国际申请的公布数据WO2018/168510JA2018.09.20(71)申请人东丽株式会社地址日本东京都(72)发明人杉原洋树权利要求书2页说明书11页附图11页(54)发明名称所述峰值位置(10)的亮度乘以预先确定的小于1圆筒体表面检查装置及圆筒体表面检查方的系数倍值而得到的亮度的位置；以及扫描位置法保持部(75)，将算出的所述位置作为扫描位置(57)摘要(PA)保持。本发明的目的在于提供即使圆筒体的表面和检查装置的相对位置变化，也能够稳定且高精度地进行检查的圆筒体表面检查装置。本发明由下述部构成：光照射部(5)，对圆筒体(1)照射光；二维摄像部(6)，配置于对在圆筒体的表面反射的光进行接收的位置；扫描位置确定部(7a)，在二维图像数据(8)中确定与圆筒体的周向对应的第一方向的扫描位置(PA)；时间序列扫描图像生成部(7b)，取出扫描位置(PA)处的与第一方向垂直的第二方向的图像数据，将各图像数据按时间序列顺序在第一方向上排列而生成时间序列扫描图像；及检查部(7c)，检查时间序列扫描图像而对缺陷(4)进行检测。扫描位置确定部(7a)具有：亮度轮廓制作部(71)；亮度峰值位置算出部(72)，算出亮度最高的峰值位置(10)；亮度计测部(73)，计测峰值位置(10)的亮度；亮度下降位CN110402386A置算出部(74)，根据亮度的轮廓(9)，算出成为对CN110402386A权利要求书1/2页1.圆筒体表面检查装置，其对在检查位置处在一个方向上相对移动的圆筒体的表面进行检查，所述圆筒体表面检查装置由下述部构成：光照射部，其对所述圆筒体照射光；二维摄像部，其配置于对从所述光照射部照射并在所述圆筒体的表面反射的光进行接收的位置；扫描位置确定部，其针对由所述二维摄像部得到的二维图像数据，以预先确定的周期对所述二维图像数据的第一方向的与所述圆筒体的周向对应的扫描位置进行确定；时间序列扫描图像生成部，其针对所述二维摄像部得到的多个所述二维图像数据进行所述二维图像数据之中的、在所述扫描位置确定部中确定的扫描位置处的与所述第一方向垂直的第二方向的图像数据的提取，并将提取的所述第二方向的各图像数据按时间序列顺序在所述第一方向上排列，从而生成时间序列扫描图像；以及检查部，其检查所述时间序列扫描图像从而对缺陷进行检测，所述扫描位置确定部由下述部构成：亮度轮廓制作部，其根据由所述二维摄像部得到的二维图像数据来算出所述第一方向的各位置处的所述第二方向的各像素的亮度的积分值，并制作将所述积分值在所述第一方向上排列而成的亮度的轮廓；亮度峰值位置算出部，其从所述亮度轮廓制作部制作的所述亮度的轮廓算出亮度最高的峰值位置；亮度计测部，其对所述亮度峰值位置算出部所算出的亮度的峰值位置的亮度进行计测；亮度下降位置算出部，其从所述亮度轮廓制作部所制作的亮度的轮廓来算出与对所述亮度计测部计测出的峰值位置的亮度乘以预先确定的小于1的系数倍值而得到的亮度对应的、所述第一方向的位置；以及扫描位置保持部，其将所述亮度下降位置算出部所算出的位置作为所述扫描位置进行保持。2.如权利要求1所述的圆筒体表面检查装置，其中，所述光照射部为线状的光源，所述圆筒体的中心轴的方向、所述线状的光源的长度方向、以及所述二维摄像部的所述第二方向互相平行地配置。3.圆筒体表面检查方法，其对圆筒体的表面进行检查，所述圆筒体表面检查方法包括下述步骤：在检查位置处一边使圆筒体在一个方向上相对移动，一边对圆筒体照射光，对所述照射的光在圆筒体的表面反射的光以二维的方式进行摄像，仅以预先确定的周期对二维图像数据的第一方向的与所述圆筒体的周向对应的扫描位置进行确定；针对多个所述二维图像数据进行所述二维图像数据之中的、所述确定的所述第一方向的各位置处的与所述第一方向垂直的第二方向的图像数据的提取，并将提取的所述第一方向的各图像数据按时间序列顺序在所述第一方向上排列，从而生成时间序列扫描图像，检查所述时间序列扫描图像从而对缺陷进行检测，对于所述扫描位置而言，2CN110402386A权利要求书2/2页