基于结构光测量的涂胶信息检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110530273A(43)申请公布日2019.12.03(21)申请号201910900200.5(22)申请日2019.09.23(71)申请人易思维（杭州）科技有限公司地址310051浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室(72)发明人周志杰冯伟昌郭寅郭磊(51)Int.Cl.G01B11/03(2006.01)G01B11/06(2006.01)G06T7/12(2017.01)G06T7/136(2017.01)权利要求书2页说明书4页附图2页(54)发明名称基于结构光测量的涂胶信息检测方法(57)摘要本发明公开了基于结构光测量的涂胶信息检测方法，包括：1)对胶条轮廓结构光图像进行图像处理，分割底部直线段，进行拟合，得到底部基准线；2)计算底部基准线与光平面坐标系x轴的夹角θ，将胶条轮廓旋转-θ度；剔除底部直线段，在剩余的轮廓点组成的胶形轮廓段中计算胶高特征点、胶宽特征点；3)得到的多个胶高特征点，并计算法线；根据法线，构造平面I，选取预设帧图像，将预设帧图像中胶高特征点、胶宽特征点投影到平面I；利用胶高特征点计算胶高；将胶宽特征点之间的距离记为胶宽；4)对于涂胶轨迹中其他待测位置，重复步骤1)～3)，完成整个涂胶轨迹中胶条信息的检测；本方法对角度偏差进行校正，能够准确获取涂胶三维轮廓信息。CN110530273ACN110530273A权利要求书1/2页1.一种基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于包括以下步骤：1)对线结构光传感器采集的胶条轮廓结构光图像进行图像处理，分割出胶条轮廓中的底部直线段，并对所述底部直线段进行拟合，得到底部基准线；2)计算底部基准线与光平面坐标系x轴的夹角θ，以光平面坐标系的原点为旋转中心，将胶条轮廓旋转-θ度；在旋转后的胶条轮廓中剔除底部直线段，将剩余的轮廓点记为胶形轮廓段；计算所述胶形轮廓段中各点与底部基准线的距离，将得到距离值最大的坐标点记为胶高特征点；将胶形轮廓段中首、尾端点处的坐标点记为一对胶宽特征点；3)若一帧胶条轮廓结构光图像中仅包含一条胶条轮廓，则对相邻帧胶条轮廓重复步骤1)～2)至少一次，获取连续帧胶条轮廓结构光图像中的胶高特征点；若一帧胶条轮廓结构光图像中包含多条胶条轮廓，则分别计算每条胶条轮廓中的胶高特征点；利用得到的多个胶高特征点，计算法线；根据所述法线，在任一胶高特征点处构造平面记为平面I，选取一张胶条轮廓图像记为预设帧图像，将所述预设帧图像中胶高特征点和一对胶宽特征点均投影到所述平面I；将投影后的胶高特征点的y轴坐标绝对值与底部基准线直线方程中截距的绝对值之和，记为胶高；将投影后的一对胶宽特征点之间的距离记为胶宽；4)对于涂胶轨迹中其他待测位置，重复步骤1)～3)，获取各个待测位置被涂胶条的胶宽、胶高信息，直至完成整个涂胶轨迹中胶条信息的检测。2.如权利要求1所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：步骤1)中分割底部直线段采用Hough变换检测方法或者以下步骤：获取胶条轮廓结构光图像中的首、尾两个端点，并将两个端点连线，遍历两端点之间胶条轮廓上的所有点，计算各点到所述连线的距离，若距离值均小于预设阈值，则将两端点之间的轮廓区域划分为预选直线段；否则，将距离所述连线最远的点标记为新的端点，重复上述判断过程，直到胶条轮廓中的所有点均被划分完成；根据各个预选直线段的直线方程，将任意两个预选直线段的斜率与截距分别作差，记两个差值之和为判断值；计算所有判断值，将得到判断值最小的一对预选直线段标记为底部直线段。3.如权利要求2所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：所述预设阈值小于0.5mm。4.如权利要求1所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：步骤1)中对底部直线段进行拟合的方法为RANSAC算法或最小二乘法。5.如权利要求1所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：对步骤2)中的胶形轮廓段进行如下筛选处理：对所述胶形轮廓段中相邻两个轮廓点的X坐标依次进行差分运算，将得到差分结果大于阈值的两个轮廓点记为间断点，以间断点作为分割位置，将胶形轮廓段分割为两个子点集，将点数量较多的子点集记为新的胶形轮廓段；所述阈值为0.1～0.3mm。6.如权利要求1所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：步骤3)中重复2CN110530273A权利要求书2/2页步骤1)～2)5～8次，再利用5～8个胶高特征点拟合法线；预设帧图像选取为第[n/2]帧图像，n为重复总次数。7.如权利要求1或6所述基于结构光测量的涂胶信息检测方法，其特征在于：将步骤4)中涂胶轨迹中其他待测位置设置为：线结构光传感器采集的连续每帧图像对应的胶条位置。8.如权利要求1所述基于