一种用于衍射测量装置的接收准直器.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115524350A(43)申请公布日2022.12.27(21)申请号202110709697.X(22)申请日2021.06.25(71)申请人中国兵器工业第五九研究所地址400039重庆市九龙坡区渝州路33号(72)发明人郑林窦世涛陈新车路长伍太宾张津赵方超封先河何长光彭菲菲(74)专利代理机构重庆弘旭专利代理有限责任公司50209专利代理师周韶红(51)Int.Cl.G01N23/20008(2018.01)权利要求书1页说明书4页附图3页(54)发明名称一种用于衍射测量装置的接收准直器(57)摘要本发明公开了一种用于衍射测量装置的接收准直器，包括准直器本体和设置在准直器本体上的通光孔和定位孔，通光孔具有相对于准直器本体轴线斜向布置的内轮廓和外轮廓，由内轮廓和外轮廓共同围合成呈锥台形结构的衍射光子通道或衍射线通道；定位孔是内含了X射线及其X射线吸收器，是入射光子通道或入射线通道。采用带有本发明接收准直器的衍射装置能够实现样品内部的一个部位物质衍射的多方向同时成像，实现样品内部的一个部位物质衍射的德拜环或衍射花样的同时成像，能够基于同时成像的德拜环或衍射花样进行样品的一个部位物质的物相、织构、应力等的快速无损检测分析。CN115524350ACN115524350A权利要求书1/1页1.一种用于衍射测量装置的接收准直器，包括准直器本体(4)和设置在准直器本体(4)上的通光孔(6)，其特征在于：所述通光孔(6)具有相对于所述准直器本体(4)轴线斜向布置的内轮廓(61)和外轮廓(62)，由所述内轮廓(61)和所述外轮廓(62)共同围合成呈锥台形结构的衍射光子通道或衍射线通道。2.根据权利要求1所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述内轮廓(61)的延长线与所述外轮廓(62)的延长线相交于衍射测量装置入射线束(7)的中心线上，且该相交点为衍射测量装置的衍射仪圆圆心；所述入射射线束(7)的中心线重合于所述准直器本体(4)轴线。3.根据权利要求1或2所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述通光孔(6)的内轮廓(61)延长线与所述准直器本体(4)轴线之间的夹角为γ，γ取值范围为2°～10°。4.根据权利要求3所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述通光孔(6)的内轮廓(61)与外轮廓(62)之间的夹角为δ，δ取值范围为0.5°～6°。5.根据权利要求4所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：γ+δ不大于12°。6.根据权利要求1‑5任一项所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述准直器本体(4)中部设置有定位孔(10)，定位孔(10)的轴线与所述准直器本体(4)轴线重合。7.根据权利要求6所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：在所述定位孔(10)内还设置有X射线吸收器(11)。8.根据权利要求1‑7任一项所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述锥台形结构为圆锥台形结构或方锥台形结构。9.根据权利要求8所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述收准直器采用钨、铅、铁等材料制备，使得X射线只能通过所述通光孔(6)到达衍射测量装置的阵列探测器或X射线成像板探测区域，屏蔽掉来自于其它方向的X射线。10.根据权利要求9所述的用于衍射测量装置的接收准直器，其特征在于：所述准直器本体(4)的底端设有向外凸起的沿(63)，该沿(63)的平面用于紧密贴靠在阵列探测器或X射线成像板上或其屏蔽盒(51)上。2CN115524350A说明书1/4页一种用于衍射测量装置的接收准直器技术领域[0001]本发明涉及衍射测量放装置，具体涉及一种用于衍射测量装置的接收准直器。背景技术[0002]现有文献CN111380880A公开了一种衍射装置，包括X射线照射系统，其对被测样品的测量部位照射X射线；X射线探测系统，其同时对X射线由被测样品的多个部位衍射而形成的多条衍射X射线进行探测，来同时测量被测样品多个部位的X射线衍射强度分布；其中，探测的X射线为短波长特征X射线；X射线探测系统为平行光的阵列探测系统，该阵列探测系统包括接收阵列准直器和匹配于接收阵列准直器的且各探测单元具有单光子测量的阵列探测器。该装置采用了常规的接收准直器(类似于索拉狭缝)，虽然能够快速检测工件内部晶体取向均匀性，但其是针对样品多部位物质衍射的一个方向同时成像，无法实现样品的一个部位物质衍射的多方向同时成像，无法实现样品的一个部位物质衍射的德拜环或衍射花样的同时成像，更不可能基于同时成像的德拜环或衍射花样进行样品的一个部位物质的物相、织构、应力等的快速无损检测分析。发明内容[0003]本发明的目的在于提供一种用于衍射测量装置的接收准直器，至少用于解