检测方法及其系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115615350A(43)申请公布日2023.01.17(21)申请号202110807884.1(22)申请日2021.07.16(71)申请人深圳中科飞测科技股份有限公司地址518109广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301(72)发明人陈鲁刘欢敏吕肃张嵩(74)专利代理机构上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31327专利代理师吴凡高静(51)Int.Cl.G01B11/24(2006.01)权利要求书5页说明书16页附图7页(54)发明名称检测方法及其系统(57)摘要一种检测方法及其系统，用于对待检测工件的线轮廓度进行检测，方法包括：在待检测工件上选取实际点，获取实际点与理想轮廓处于同一坐标系下的测量点，通过在理想轮廓上获取相邻的第一基准点和第二基准点，第一基准点和第二基准点中至少一者为与测量点距离最小的参考基准点，第一基准点指向第二基准点的方向为绕理想轮廓内部一点的顺时针方向，获取第一基准点或第一基准点与第二基准点之间任意一点与第二基准点构成的第一向量；获取第二基准点和测量点构成的第二向量，基于第一向量和第二向量的叉积值，来判断测量点位于待测工件的理想轮廓内部、外部或者理想轮廓上，相应的判断待检测工件中的实际点是位于理想轮廓内部、外部或者理想轮廓上。CN115615350ACN115615350A权利要求书1/5页1.一种检测方法，用于对待检测工件的线轮廓度进行检测，其特征在于，所述检测方法包括：提供待检测工件的理想轮廓，所述理想轮廓包括多个基准点；在所述待检测工件上选取实际点；获取所述实际点与所述理想轮廓处于同一坐标系下的测量点；在所述理想轮廓上获取相邻的第一基准点和第二基准点，所述第一基准点和第二基准点中至少一者为与所述测量点距离最小的参考基准点；所述第一基准点指向第二基准点的方向为绕所述理想轮廓内部一点的顺时针方向；获取所述第一基准点或第一基准点与第二基准点之间任意一点与第二基准点构成的第一向量；获取第二基准点和测量点构成的第二向量；基于所述第一向量和第二向量的叉积值，来判断所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部、外部或者理想轮廓上。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，基于所述第一向量和第二向量的叉积值，来判断所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部、外部或者理想轮廓上的包括：根据所述叉积为零，判断所述测量点是否位于所述理想轮廓上；根据所述叉积的正负判断所述测量点位于所述理想轮廓内或位于理想轮廓外。3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第一基准点指向第二基准点的方向或者第一基准点与第二基准点之间任意一点指向第二基准点为第一方向，所述第二基准点指向测量点的方向为第二方向；根据所述叉积的正负判断所述测量点位于所述理想轮廓内或位于理想轮廓外包括：第一向量的方向与第一方向相同，所述第二向量的方向与第二方向相同，所述第一向量与第二向量的叉积大于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部；第一向量与第二向量的叉积小于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓外部；或者，第一向量的方向与第一方向相同，所述第二向量的方向与第二方向相反，第一向量与第二向量的叉积大于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓外部；第一向量与第二向量的叉积小于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部；或者，第一向量的方向与第一方向相反，所述第二向量的方向与第二方向相同，第一向量与第二向量的叉积大于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓外部；第一向量与第二向量的叉积小于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部；或者，第一向量的方向与第一方向相反，所述第二向量的方向与第二方向相反，第一向量与第二向量的叉积大于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓内部；第一向量与第二向量的叉积小于零，所述测量点位于待测工件的理想轮廓外部。4.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述叉积为零，判断所述测量点是否位于所述理想轮廓上包括：所述第一向量和第二向量的叉积值为零，且所述测量点位于所述第一基准点和第二基准点所在的线段上，则所述测量点位于所述理想轮廓上；所述第一向量和第二向量的叉积值为零，且所述测量点位于所述第一基准点和第二基准点所在的线段的延伸线上，获取所述基准点中除第一基准点和第二基准点外与所述参考基准点相邻的临近基准点；将所述参考基准点与所述临近基准点作为新的所述第一基准点和第二基准点，重复基于所述第一向量和第二向量的叉积值，来判断所述测量点位于待测2CN115615350A权利要求书2/5页工件的理想轮廓内部、外部或者理想轮廓上的步骤。5.如权利要求1至4中任一项所述的检测方法，其特征在于，所述理想轮廓由连接相邻基准点的直线段或曲线段组成。6.如权利要