用于紫外灯组件的电磁干扰降低的系统和方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115332047A(43)申请公布日2022.11.11(21)申请号202210532798.9(22)申请日2022.05.11(30)优先权数据63/186,8492021.05.11US(71)申请人波音公司地址美国伊利诺伊州(72)发明人J·J·查尔德里斯J·S·比斯尔(74)专利代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司11245专利代理师袁策(51)Int.Cl.H01J61/10(2006.01)权利要求书2页说明书11页附图9页(54)发明名称用于紫外灯组件的电磁干扰降低的系统和方法(57)摘要本申请公开用于紫外灯组件的电磁干扰降低的系统和方法。一种紫外(UV)光消毒系统包括电磁干扰(EMI)降低盖，该盖被配置为耦合到具有UV光源的UV灯组件的外壳，该UV光源被配置为通过外壳的光出口发射UV光。EMI降低盖还被配置为设置在光出口内、下方或上方中的一个或多个。EMI降低盖包括一个或多个网格，该网格包括梁和限定在梁之间的光开口。光开口提供开放区域，UV光穿过该开放区域从UV光源发射，并且其中EMI降低盖包括至少90％的开放空间。在至少一个示例中，梁包括至少一个表面，该表面横向于要从UV光源发射的UV光的方向。在至少一个示例中，其中EMI降低盖包括内部网格和外部网格。CN115332047ACN115332047A权利要求书1/2页1.一种电磁干扰降低盖即EMI降低盖，其被配置为耦合到具有UV光源(108)的UV灯组件(102)的外壳(106)，所述UV光源(108)被配置为通过所述外壳(106)的光出口(112)发射UV光(110)，所述EMI降低盖(104)包括：一个或多个网格(114)，其包括多个结构梁(116)，所述多个结构梁(116)限定多个光开口(118)，其中所述多个光开口(118)促进从所述UV光源(108)发射的所述UV光(110)通过，并且其中所述EMI降低盖(104)包括相对于所述多个结构梁(116)的至少90％的开放空间。2.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)不被配置为直接耦合到所述UV光源(108)。3.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述多个结构梁(116)由反射材料形成。4.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)的节距(120)为0.3英寸或更小，并且其中每个所述梁(116)的厚度(122)为0.02英寸或更小。5.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)的节距(120)为0.2935英寸，并且其中每个所述梁的厚度(122)为0.01英寸。6.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)的节距(120)与每个所述梁(116)的厚度(122)的比率为至少15:1。7.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)的节距(120)与每个所述梁(116)的厚度(122)的比率为29.35:1。8.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)的节距(120)与每个所述梁(116)的厚度(122)的比率为30:1。9.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述EMI降低盖(104)还包括外框架(105)，其中所述多个结构梁(116)和所述多个光开口(118)设置在所述外框架(105)的内侧，其中所述外框架(105)被配置为固定到所述外壳(106)。10.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述梁(116)包括至少一个表面(300)，所述至少一个表面(300)横向于要从所述UV光源(108)发射的所述UV光(110)的方向。11.根据权利要求10所述的EMI降低盖(104)，其中所述至少一个表面(300)被配置为面向所述UV光源(108)，并且其中所述至少一个表面(300)包括反射材料，所述反射材料促进通过所述一个或多个光开口(118)反射所述UV光(110)中的至少一些。12.根据权利要求11所述的EMI降低盖(104)，其中所述至少一个表面(300)包括两个表面(300)，所述两个表面(300)横向于要从所述UV光源(108)发射的所述UV光(110)的所述方向。13.根据权利要求11所述的EMI降低盖(104)，其中所述多个结构梁(116)还包括连接到所述至少一个表面(300)的钝面。14.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，其中所述多个结构梁(116)具有呈三角形的形状的轴向横截面。15.根据权利要求1所述的EMI降低盖(104)，还包括耦合到所述一个或多个网格(114)的一个或多个基板，其