2016101217626基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚板超声检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN105806948B
(45)授权公告日2019.04.05
(21)申请号201610121762.6(56)对比文件
(22)申请日2016.03.03CN101975821A,2011.02.16,
CN101178386A,2008.05.14,
(65)同一申请的已公布的文献号FR2997191A1,2014.04.25,
申请公布号CN105806948AUS2014/0260631A1,2014.09.18,
(43)申请公布日2016.07.27CN102467581A,2012.05.23,
(73)专利权人奥瑞视（北京）科技有限公司CN201352213Y,2009.11.25,
地址100085北京市海淀区上地硅谷亮城张立君.大型承力结构件电子束焊缝超声C
2B-217扫描检测技术研究《.中国优秀硕士学位论文全
文数据库工程科技Ⅰ辑》.2011,
(72)发明人郭大勇阙开良吴越李荣广
审查员蒋超
(74)专利代理机构北京路浩知识产权代理有限

公司11002
代理人李相雨
(51)Int.Cl.
G01N29/06(2006.01)
G01N29/28(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页
(54)发明名称
基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚
板超声检测方法
(57)摘要
本发明提供基于局部水浸耦合方式单晶直
探头的中厚板超声检测方法，利用单晶直探头、
局部水浸耦合方式和界面波闸门实时跟踪方式，
同时通过第一次伤波和第一次底波在不同灵敏
度情况下对缺陷评价的多通道自动化板探检测
工艺对中厚板缺陷进行超声检测，包括：利用单
晶直探头、局部水浸耦合方式和分时机制，通过
多通道单晶直探头获取待测中厚板各区域回波
信号并模数转换；根据转换后回波数据判断是否
有缺陷，若是则产生中断信号，将中断信号和回
波数据发送至处理器；处理器根据其形成A扫图
像并获得缺陷当量大小，将A扫波形利用回波幅
值高度、声程位置和判伤标准转化为C扫图像。能
有效满足检测中厚板缺陷需求，减少探头磨损，
实用性更高。
CN105806948B
CN105806948B权利要求书1/2页

1.一种基于局部水浸耦合方式单晶直探头的中厚板超声检测方法，其特征在于，利用
单晶直探头、水耦合方式为局部水浸和界面波闸门实时跟踪的方式，同时通过第一次伤波
和第一次底波在不同灵敏度情况下，对缺陷进行评价的多通道自动化板探检测工艺，对中
厚板的缺陷进行超声检测，具体包括步骤：
100、根据待测中厚板的宽度自动计算得到单晶直探头的数量，其中，在待测中厚板的
宽度方向上，每隔预设距离设置一个通道的单晶直探头，形成一个探伤路径，每个单晶直探
头用于检测预设范围区域，获取预设范围区域的回波信号，以满足100％全覆盖；
101、利用单晶直探头，采用局部水浸耦合方式，使用分时机制，通过多个通道的各单晶
直探头，获取待测中厚板各区域的回波信号；
102、对所述回波信号进行模数转换，获得数字化的回波数据；
103、对所述回波数据中波形的特性进行分析，判断所述回波数据对应的单晶直探头的
扫查位置是否有缺陷；
104、若确定所述回波数据对应的单晶直探头的扫查位置有缺陷，则产生中断信号，并
将所述中断信号和所述回波数据发送至处理器；
105、所述处理器根据接收的中断信号和所述回波数据，形成相应的A扫图像；
106、所述处理器将所述回波数据及所述回波数据对应的单晶直探头的扫查位置与预
先建立的待测中厚板板材的特征数据库中的数据进行比较，获得缺陷的当量大小；
107、所述处理器将每一通道的A扫图像中的波形，利用回波幅值高度、声程位置和判伤
标准转化为C扫图像。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤103，包括：
对所述回波数据中波形的特性进行分析，判断所述回波数据是否越过预设报警闸门；
若所述回波数据越过预设报警闸门，则确定该回波数据对应的单晶直探头的扫查位置
有缺陷。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述数字化的回波数据，包括发射波、界面
波、伤波和底波；所述预设报警闸门，包括：界面波闸门、伤波闸门和底波闸门。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述C扫图像中，X方向为待测中厚板的
宽度方向，Y方向为待测中厚板的长度方向，C扫成像颜色代表回波高度或判伤级别，声程深
度方向在厚度方向的C扫图像中显示。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤103，包括：
对所述回波数据中波形的特性进行分析，判断底面第一次反射回波数据未达到荧光屏
满刻度时，缺陷的第一次反射回波数据与底面第一次反射回波数据之比是否大于或等于预
设第一阈值，若是，则确定该回波数据