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扫描电子显微镜之SEMEDS样品制 备方法 编辑作者:驰奔COXEM【酷塞目】BeijingOffice(转载请注明出处) 扫描电子显微镜的优势为可以直接观察非常粗糙的样品表面,参差起 伏的材料原始断口。但其劣势为样品必须在真空环境下观察,因此对样品有一些 特殊要求,笼统的讲:干燥,无油,导电. 1、形貌形态,必须耐高真空,例如有些含水量很大的细胞,在真空中很快被抽 干水分,细胞的形态也发生了改变,无法对各类型细胞进行区分; 2、样品表面不能含有有机油脂类污染物。油污在电子束作用下极端容易分解成 碳氢化物,对真空环境造成极大污染。样品表面细节被碳氢化合物遮盖; 碳氢化合物降低了成像信号产量;碳氢化合物吸附在电子束光路引起极大象 散;碳氢化合物被吸附在探测器晶体表面,降低探测器效率。对低加速电压的电子 束干扰严重。 3、样品必须为干燥。水蒸气会加速电子枪阴极材料的挥发,从而极大降低灯丝 寿命;水蒸气会散射电子束,增加电子束能量分散,从而增大色差,降低 分辨能力。 4、样品表面必需导电:在大多数情况下,初级电子束电荷数量都大于背散射 电子和二次电子数量之和,因此多余的电子必须导入地下,即样品表面电位必须 保持在0电位。如果样品表面不导电,或者样品接地线断裂,那么样品表面静电荷存 在,使得表面负电势不断增加,出现充电效应,使图像畸变,入射电子束减速,此时 样品如同一个电子平面镜。 5、在某些情况下,样品制备变成重要的考虑因素。若要检测观察弱反差机理,就必 须消除强反差机理(例如,形貌反差),否则很难检测到弱的反差。当希望EBSD背 散射电子衍射反差,I和II型磁反差或其他弱反差机理时,磁性材料的磁畴特性必 需消除样品的形貌。采用化学抛光,电解抛光等,产生一个几乎消除形貌的镜面。 特殊情况:磁性材料,必须退磁.请问为什么? 扫描电镜样品的制备 1、金属和陶瓷样品: 1)、形貌观察 •彻底的去除油污以避免碳氢化合物的污染。 超声波清洗机:溶剂为丙酮、乙醇、甲苯等。溶剂不危害 样品表面形貌完整性是非常重要的。 确定样品污染方法:在很高的放大倍数下观察样品,然后降低放大倍数(扫 描电镜为齐焦系统,高倍聚焦清楚,在低的倍数下不离焦),如果有污染,在低倍会 观察到原来高倍的扫描区域有明显黑色痕迹。污染物沉积的速率和电子束照射区域的 剂量有关,由于越高的放大倍数,相同扫描时间内样品单位面积电子束照射剂量越 大。 •绝缘样品需要喷镀导电膜:真空蒸发镀膜技术和离子溅射镀膜 技术。实现导电,导热,很大程度上增加二次电子发率。 1、导电率:电阻率高的材料,在电子束入射下会迅速 充电,而且形成相当高的电位,使样品某个区域绝缘击穿,导 致样品表面电位发生变化,产生复杂的图像假象,所谓充电效 应。表现为,低能二次电子被偏转或者加速,在裂缝中,二次 电子发射增加;严重的还会干扰物镜—场,引起象散不稳 定,亮度不均匀,和杂散的X射线信 号;使得系统分辨率下降,分析能力下降。 2、减少热损伤:在正常观察图像时,电子探针的束流通 常为nA级,所以对于大多数样品,受热不是问题。但对于阴极 荧光,x射线显微分析,探针电流往往是几百nA甚至级别,热效 应较为严重。样品过渡受热会表现为图像扫描区域移动,不稳 定,还可能会破裂损坏。- --电子束损伤。表现为,样品起泡,龟裂,内部出现孔洞,较 高的束流引起,塑料,聚合物,生物样品中的有机材料迅速分 解,甚至造成大量元素损失。 3、二次电子和背散射电子发射:绝缘样品镀一层10nm厚 的Au层,能够提高SE发射率。但对于某些含有碱土的金属氧 化物陶瓷,SE产额反而会减少低很多。 背散射电子观察,如果镀上一层重金属,会掩盖原子序数反差 因此常常利用一薄层地原子序数导体,蒸碳较为合适,这样不 会大量散射入射电子。 对于高分辨,低能量损失的信号,样品必需镀有在分辨率1nm 时不会显现结构的重金属层,一般推荐,高熔点金属,钽或者 钨作为镀层。 4、提高机械稳定性:颗粒样品和脆性的有机材料镀上一层碳 后,可以被牢固的固定在样品杯上。甚至可以不用胶带固定, 直接蒸镀碳膜或者溅射金属膜层,就能很好的固定。 5、未镀膜的绝缘样品几种方法:低电压操作--在反射率和 二次电子产额等于1之间的电压下操作,对于钨灯丝 扫描电镜,电子束亮度相对高电压会降低几十倍,而且电子光 学系统的像差亦会增大,这需要考虑扫描电镜的潜能。而对于 场发射扫描电镜来说,在低加速电压下,也可以获得好的分辨 率;在样品表面增加离子,中和表面累积电荷,可采用低真空 样品室,获得等离子气体;含水样品可以采用冷冻台,直接观 察,也可在冷冻后喷 金,或者采用低真空环境模式消除荷电,在高真空夏有赖于样 品中的水分有足够的电导率。 2)、