其它显微分析方法.ppt

第四部分其它显微分析方法主要内容1俄歇电子能谱仪（AES）能级跃迁，使空位层的外层电子发射出去
俄歇电子能量具有特征值
近表面性质
能量很低俄歇电子产生的基本原理俄歇电子的能量电子能谱实例1： IN718合金的俄歇电子像及晶界俄歇电子能谱实例2
某合金钢的晶界脆断分析
注意问题：
必须在超高真空样品室内用液氮冷却，直接打断试样，以便提供未受污染的原始晶界表面
2场离子显微镜（FIM）1）场离子显微镜的结构2.用液氮冷却至深低温，减小原子的热震动，使原子图象平稳可辨别；
3.样品作为阳极（10-40kv),容器内壁通过电镀层接地）；
4.样品上加高电压时,成像气体原子发生极化和电离,荧光屏可显示尖端表层原子的清晰图象.2）场致电离和原子成像成像气体离子受电场的加速而射向阴极,与观察屏相撞时,可激发光信号.3）图像的解释3扫描隧道显微镜（STM）1)STM与其它显微镜分辨率的比较2)STM工作原理隧道电流不是样品表面起伏的简单函数.它表征样品和针尖电子波函数的重叠程度.两种工作模式:
A)恒电流
B)恒高度CO在Pt(111)面上吸附后重构像
a)CO;b)CO转变为CO2
4X射线光电子能谱分析（XPS）特点：
最广泛应用的表面分析方法之一；
主要用于成分和化学态的定性及定量分析。

测量原理：
用单色X射线照射样品，入射光子与样品原子相互作用，光致电离产生了光电子。这些光电子从产生处溢出表面，用能量分析器分析光电子的动能，可得X射线光电子能谱。典型XPS谱