上线碱槽剥膜参数DOE分析.doc

I8000上线碱槽剥膜参数DOE分析
一、实验目的
针对碱槽剥膜的不良，研究分析影响剥膜不良的各种因子，首先通过第一阶段实验找出影响碱槽剥膜不良的显著因子，再通过第二阶段实验去寻找最优参数组合。
二、因子筛选
1、碱槽剥膜原理介绍
碱槽剥膜为ITO触摸屏制作的关键步骤。针对I8000这个机种的上线为日东双层FILM材料（1220-2L-V270-TFME-340），它的碱溶液配置成分为NaOH(氢氧化钠):H2O(纯水)，按照1：24的比率配制。碱槽的主要目的是利用碱溶液将FILM上印刷的耐酸剥掉，保留导电膜ITO。
2、因子选择
根据以往不良记录，产生的碱槽剥膜不良现象的原因有：耐酸厚度过大或偏小，传动速度太快或太慢，碱溶液的浓度过大过过小，喷压过大或过小，溶液温度过高或过低，材料放进蚀刻槽时操作不当等。

以上不良中，材料放进蚀刻槽时操作不当,机器稳定性；这些是人员或机器的原因，因此在第一阶段实验可以忽略这些项目不良。同时，耐酸的印刷厚度要求为8~12m。
在第一阶段实验只考虑以下5个因子：速度，碱液浓度，温度，碱槽喷压和耐酸厚度。

三、第一阶段实验设计
1、因子水平对照表
因子
水平
12交互作用A碱槽速度（m/min）1.52.5B碱液浓度（mol/L）0.30.6C
溶液温度（℃）25.035.0D碱槽喷压（kg/cm）0.51.5F耐酸厚度/8.012.02、找显著因子
每个实验号做50次实验，用L(2)统计实验结果如下：
实验号
列号
12345产量XKABCDF1111112721112231312211384122224052121240621221427221124382212146K1136140147148153总产量307K2171167160159154Q352713111此得出：
S=153.125，S=91.125，S=21.125，S=15.125，S=0.125
计算总离差平方和：
Q=12063.00，S=281.88，S=1.25
3、整理成方差分析表如下：
方差来源离差平方和自由度平均离差平方和F值临界值显著性贡献率A153.1251153.125367.500F(1,3)=34.12**54.32%B91.125191.125218.700**32.33%C21.125121.12550.700**7.49%D15.125115.12536.300**5.37%F0.12510.1250.3000.04%误差1.25030.4170.44%总和281.8758100%
4、第一阶段实验结论
由前面可以得出A，B，C，D为显著因子，它们总贡献率为99.51%，F为隐性因子。
四、第二阶段实验设计
为了找出最佳的参数组合，故将第一阶段实验找出的显著因子A、B、C、D再进行第二阶段实验，每个因子拟3个水平，每个实验号做50次实验，实验结果如下：
因子水平对照表
因子
水平
123交互作用A碱槽速度（m/min）2.02.42.8B碱液浓度（mol/L）0.20.40.6C
溶液温度（℃）253035D碱槽喷压（kg/cm）0.51.01.5点线图
1

6
4
9

7
3

5
11
8
2

列号
用L(3)统计实验结果如下：
实验号
12345678911产量XKAB(A*B)1(A*B)2C(A*C)1(A*C)2(B*C)1D(B*C)2111111111111521111222222203111133333331412221112232351222222331286122233311230713331113323181333222113289133333322135102123123121271121232312322812212331231329132231123233311422312313113415223131212242162312123312301723122311233618231231223142193132132131352031322132123321313232132338223213132213302332132133214124321332113243253321132322452633212131334727332132121145K1241256288310267303293303274302总产量
897K2299302302295295290299287307302K3357339307292335304305307316293Q11683191868141220429由此得出：
S=747.56，S=384.22，S=259.56，S=108.67，S=42.22，S=21.56，S=30.89
计算总离差平方和：
Q=3141